[发明专利]触控芯片、触控检测信号的处理方法和电子设备有效
申请号: | 202011035616.4 | 申请日: | 2020-09-27 |
公开(公告)号: | CN111930271B | 公开(公告)日: | 2021-01-22 |
发明(设计)人: | 沈海明;包宇洋 | 申请(专利权)人: | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
代理公司: | 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 | 代理人: | 田玉珺;毛威 |
地址: | 518045 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 芯片 检测 信号 处理 方法 电子设备 | ||
本申请提供了一种触控芯片、触控检测信号的处理方法和电子设备,能够降低显示层的行同步信号在时域上的抖动对触控层的触控检测的影响,提高触控检测系统的信噪比。所述触控芯片包括:驱动电路,用于根据屏幕的显示层的行同步信号的行扫描周期,向所述屏幕的触控层输出打码信号;检测电路,用于接收所述触控层输出的检测信号;采样电路,用于对所述检测信号进行采样,得到采样数据,其中,所述行扫描周期是变化的,不同行扫描周期内的采样点数量均为预设值;以及,解调电路,用于根据所述采样数据进行正交解调,得到所述检测信号的解调结果。
技术领域
本申请实施例涉及信息技术领域,并且更具体地,涉及一种触控芯片、触控检测信号的处理方法和电子设备。
背景技术
随着电子设备的屏幕越来越薄,屏幕中的触控层与显示层之间的距离越来越近,显示层和触控层之间存在相互影响,因此可以使触控芯片获取的触控检测信号与显示层的行同步信号的行扫描周期之间同步,以降低显示层对触控层的噪声影响。但是,当显示层的行同步信号的行扫描周期不稳定时,触控芯片采集到的相应的触控检测信号也就不稳定,对触控检测信号进行采样和解调后得到的解调结果中就包括额外的噪声。这样,显示层的行同步信号的不稳定,就给触控层的触控检测带来了额外的噪声,降低了触控检测系统的信噪比,影响触控检测的结果。
发明内容
本申请实施例提供一种触控芯片、触控检测信号的处理方法和电子设备,能够降低显示层的行同步信号在时域上的抖动对触控层的触控检测的影响,提高触控检测系统的信噪比。
第一方面,提供了一种触控芯片,包括:
驱动电路,用于根据屏幕的显示层的行同步信号的行扫描周期,向所述屏幕的触控层输出打码信号;
检测电路,用于接收所述触控层输出的检测信号;
采样电路,用于根据所述行扫描周期,对所述检测信号进行采样,得到采样数据,其中,所述行扫描周期是变化的,不同行扫描周期内的采样点数量均为预设值;以及,
解调电路,用于根据所述采样数据进行正交解调,得到所述检测信号的解调结果。
基于上述技术方案,当显示层的行同步信号的行扫描周期不稳定时,由于在不同行扫描周期内按照相同采样点数对各个行扫描周期内采集到的触控检测信号进行采样,因此基于触控检测信号的采样数据所得到的解调结果也就是稳定的,降低了显示层的行同步信号在时域上的抖动对触控层的触控检测的影响,减小了检测结果中的噪声,提高了触控检测系统的信噪比。
在一种可能的实现方式中,所述采样电路具体用于:从所述行扫描周期内的所述行同步信号的上升沿的时刻起,对所述行扫描周期内的所述检测信号进行采样。
在一种可能的实现方式中,所述预设值为小于或者等于F1/F2的整数,其中,F1为用于对所述检测信号进行采样的采样频率,F2为所述行扫描信号的或者所述检测信号的频率。
在一种可能的实现方式中,所述预设值为小于或者等于F1/F2的最大整数。
在一种可能的实现方式中,所述采样电路具体用于:对所述行扫描周期的有效时间区间内的所述检测信号进行采样,其中,所述有效时间区间为有触摸信号时所述检测信号的幅值发生变化的时间区间。
由于触控检测例如对手指或笔的电容检测而言,通常包括向触控层中的触控电极充放电的过程、抵消触控电极的基础电容的过程、以及将抵消基础电容后的触控电极上的电荷量进行转移的过程。而只有在电荷转移的过程中,采样电路采集到的数据才反映了触控电极上的触摸情况,因此,在行扫描周期内,采样电路可以仅采集与该电荷转移过程对应的有效时间区间内的数据,从而提高数据采集的效率。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市汇顶科技股份有限公司,未经深圳市汇顶科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011035616.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。