[发明专利]振动器件有效
申请号: | 202011039139.9 | 申请日: | 2020-09-28 |
公开(公告)号: | CN112583376B | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | 水垣浩一 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | H03H9/10 | 分类号: | H03H9/10;H03H9/19;H03H9/13;H03H3/04 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 邓毅;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 振动 器件 | ||
提供振动器件,该振动器件是小型的。振动器件具有:半导体衬底,其具有处于正反关系的第1面和第2面;集成电路,其设置于所述第1面;第1端子,其设置于所述第2面,被施加衬底电位;第2端子,其设置于所述第2面,被施加与所述衬底电位不同的电位;第1贯通电极,其贯通所述半导体衬底,将所述第1端子与所述集成电路电连接;第2贯通电极,其贯通所述半导体衬底,将所述第2端子与所述集成电路电连接;框部,其贯通所述半导体衬底,具有绝缘性;振动片,其配置于所述第1面;以及盖,其与所述第1面接合,所述第1贯通电极位于所述框部的外侧,所述第2贯通电极位于所述框部的内侧。
技术领域
本发明涉及振动器件。
背景技术
专利文献1所记载的半导体装置具有硅衬底。在该硅衬底上形成有贯通硅衬底的筒状贯通电极、覆盖筒状贯通电极的侧壁的第一绝缘膜、以及位于筒状贯通电极的内侧并贯通硅衬底的条状贯通电极。因此,假设与贯通孔连接的凸块不仅与贯通孔接触,还与该贯通孔周围的硅衬底接触,即使电流经由该接触部而从端子泄漏到硅衬底,也难以产生绝缘不良。因此,能够抑制半导体装置的可靠性下降。
专利文献1:日本特开2006-019431号公报
但是,当将如专利文献1的筒状贯通电极和绝缘膜配置于全部贯通电极的周围时,会导致半导体装置的大型化。
发明内容
本应用例的振动器件的特征在于,具有:半导体衬底,其具有处于正反关系的第1面和第2面;集成电路,其设置于所述第1面;第1端子,其设置于所述第2面,被施加衬底电位;第2端子,其设置于所述第2面,被施加与所述衬底电位不同的电位;第1贯通电极,其贯通所述半导体衬底,将所述第1端子与所述集成电路电连接;第2贯通电极,其贯通所述半导体衬底,将所述第2端子与所述集成电路电连接;框部,其贯通所述半导体衬底,具有绝缘性;振动片,其配置于所述第1面;以及盖,其与所述第1面接合,所述第1贯通电极位于所述框部的外侧,所述第2贯通电极位于所述框部的内侧。
在本应用例的振动器件中,优选的是,该振动器件具有绝缘膜,该绝缘膜具有通孔,并配置在所述第2面与所述第2端子之间,所述第2端子经由所述通孔与所述第2贯通电极电连接。
在本应用例的振动器件中,优选的是,所述通孔的宽度大于所述第2贯通电极的宽度,在俯视时,所述通孔被所述框部包围,所述第2端子经由所述通孔与所述半导体衬底的所述框部的内侧区域电连接。
在本应用例的振动器件中,优选的是,所述框部具有:孔,其贯通所述半导体衬底;绝缘膜,其配置于所述孔的内表面;以及导电性材料,其被填充在所述孔内。
在本应用例的振动器件中,优选的是,经由所述第2端子向所述集成电路供给电源,所述第2贯通电极与所述导电性材料电连接。
在本应用例的振动器件中,优选的是,经由所述第2端子输出来自所述集成电路的信号,所述第2贯通电极不与所述导电性材料电连接。
在本应用例的振动器件中,优选的是,所述第2贯通电极的长度大于所述第2贯通电极的宽度。
附图说明
图1是示出第1实施方式的振动器件的剖视图。
图2是底座衬底的仰视图。
图3是示出贯通电极与端子的连接状态的剖视图。
图4是示出形成在底座衬底内的电容器的剖视图。
图5是示出振动片的俯视图。
图6是示出图1的振动器件的制造工序的图。
图7是用于说明振动器件的制造方法的剖视图。
图8是用于说明振动器件的制造方法的剖视图。
图9是用于说明振动器件的制造方法的剖视图。
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