[发明专利]触控芯片、触控检测信号的处理方法和电子设备

说明书

本申请提供一种触控芯片、触控检测信号的处理方法和电子设备，能够降低显示层的行同步信号在时域上的抖动对触控层的触控检测的影响，提高触控检测系统的信噪比。所述触控芯片包括：驱动电路，用于根据屏幕的显示层的行同步信号的行扫描周期，向所述屏幕的触控层输出打码信号；检测电路，用于接收所述触控层输出的检测信号；采样电路，用于对所述检测信号进行采样，得到采样数据；以及，解调电路，用于根据所述采样数据进行正交解调，得到所述检测信号的解调结果，其中，所述行扫描周期是变化的，所述行扫描周期内的用于进行正交解调的正弦信号和余弦信号的0°相位的时刻，与所述行扫描周期的起始时刻相同。

技术领域

本申请实施例涉及信息技术领域，并且更具体地，涉及一种触控芯片、触控检测信号的处理方法和电子设备。

背景技术

随着电子设备的屏幕越来越薄，屏幕中的触控层与显示层之间的距离越来越近，显示层和触控层之间存在相互影响，因此可以使触控芯片获取的触控检测信号与显示层的行同步信号的行扫描周期之间同步，以降低显示层对触控层的噪声影响。但是，当显示层的行同步信号的行扫描周期不稳定时，触控芯片采集到的相应的触控检测信号也就不稳定，对触控检测信号进行采样和解调后得到的解调结果中就包括额外的噪声。这样，显示层的行同步信号的不稳定，就给触控层的触控检测带来了额外的噪声，降低了触控检测系统的信噪比，影响触控检测的结果。

发明内容

本申请实施例提供一种触控芯片、触控检测信号的处理方法和电子设备，能够降低显示层的行同步信号在时域上的抖动对触控层的触控检测的影响，提高触控检测系统的信噪比。

第一方面，提供了一种触控芯片，包括：

驱动电路，用于根据屏幕的显示层的行同步信号的行扫描周期，向所述屏幕的触控层输出打码信号；

检测电路，用于接收所述触控层输出的检测信号；

采样电路，用于对所述检测信号进行采样，得到采样数据；以及，

解调电路，用于根据所述采样数据进行正交解调，得到所述检测信号的解调结果，其中，所述行扫描周期是变化的，所述行扫描周期内的用于进行正交解调的正弦信号和余弦信号的0°相位的时刻，与所述行扫描周期的起始时刻相同。

基于上述技术方案，当显示层的行同步信号的行扫描周期不稳定时，对触控检测信号的采样数据进行解调时，通过使每个行扫描周期内的用于进行正交解调的正余弦信号的0°相位的时刻，与该行扫描周期内的行同步信号的上升沿的时刻相同，从而使正交解调后得到的解调结果也是稳定的，降低了显示层的行同步信号在时域上的抖动对触控层的触控检测的噪声影响，提高了触控检测系统的信噪比。

在一种可能的实现方式中，所述行扫描周期的起始时刻为所述行扫描周期内的所述行同步信号的上升沿的时刻。

在一种可能的实现方式中，所述触控芯片还包括相位计数器，用于：在所述行扫描周期内的所述行同步信号的上升沿的时刻到来时，进行重置，以从0°相位开始记录相位信息；其中，所述解调电路还用于：根据重置后的所述相位计数器记录的相位信息，生成所述正弦信号和所述余弦信号。

在一种可能的实现方式中，所述行扫描周期内的所述正弦信号和所述余弦信号的相位大于、等于或者小于特定值，所述特定值为180°或者360°。

在一种可能的实现方式中，所述相位计数器还用于：当所述行扫描周期内记录的相位达到所述特定值时，基于所述特定值继续记录相位信息，直至下一个行扫描周期内的所述行同步信号的上升沿的时刻到来。

在一种可能的实现方式中，所述相位计数器还用于：当所述行扫描周期内记录的相位达到所述特定值时，暂停记录相位信息，直至下一个行扫描周期的所述行同步信号的上升沿的时刻到来。