[发明专利]一种完全非均匀偏振光的偏振均匀度度量方法、应用、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种完全非均匀偏振光的偏振均匀度度量方法，其特征在于，包括：

输入完全非均匀偏振光束横截面的Stokes参量分布；

将所述的Stokes参量分布通过计算对应在邦加球面上；

通过空间三角形曲面拟合算法对所述邦加球面上的偏振态分布进行曲面拟合；

计算得到拟合三角形曲面面积之和S_D；

将S_D除以单位邦加球面总面积S₀，得到完全非均匀偏振光的偏振均匀度

2.根据权利要求1所述的一种完全非均匀偏振光的偏振均匀度度量方法，其特征在于，通过空间三角形曲面拟合算法对所述邦加球面上的偏振态分布进行曲面拟合，具体包括：

输入偏振态数据点并设置阈值K；

将所述偏振态数据点按照空间直角坐标系的八个卦限进行分离；

对每个卦限内偏振态数据点进行Delaunay三角剖分算法拟合；

判断拟合得到的Delaunay三角形中是否至少有两边长大于设定阈值K，若是，则删除相应Delaunay三角形；

将经上述删除后剩余的Delaunay三角形描述在邦加球面上。

3.根据权利要求1所述的一种完全非均匀偏振光的偏振均匀度度量方法，其特征在于，计算得到拟合三角形曲面面积之和S_D通过海伦公式计算获得，具体包括：

根据拟合三角形三边长计算出相应Delaunay三角形面积S_i：

其中i为拟合Delaunay三角形的序号，p_i、a_i、b_i、c_i分别为Delaunay三角形的半周长和三个边长，因此曲面拟合总面积

4.根据权利要求1所述的一种完全非均匀偏振光的偏振均匀度度量方法，其特征在于，还包括：

对完全非均匀偏振光在邦加球上偏振态数据点进行数学统计，得到光束横截面上存在的偏振光的种类以及比例。

5.一种完全非均匀偏振光的偏振均匀度度量装置，其特征在于，包括：

输入模块，用于输入完全非均匀偏振光束横截面的Stokes参量分布；

第一计算模块，用于将所述的Stokes参量分布通过计算对应在邦加球面上；

拟合模块，用于通过空间三角形曲面拟合算法对所述邦加球面上的偏振态分布进行曲面拟合；

第二计算模块，用于计算得到拟合三角形曲面面积之和S_D；

第三计算模块，用于将S_D除以单位邦加球面总面积S₀，得到完全非均匀偏振光的偏振均匀度

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括：

统计模块，用于对完全非均匀偏振光在邦加球上偏振态数据点进行数学统计，得到光束横截面上存在的偏振光的种类以及比例。

7.一种电子设备，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；

存储器，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-4任一项所述的方法。

8.一种计算机可读的存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-4中任一项所述的方法。