[发明专利]基于红外光谱特征峰比值法的复合绝缘子老化评价方法

权利要求书

1.基于红外光谱特征峰比值法的复合绝缘子老化评价方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤A：获取复合绝缘子伞裙的硅橡胶样品的表面红外光谱Si-O-Si、Si-CH₃特征吸收峰面积S_表、C_表；

步骤B：获取硅橡胶样品的基体红外光谱Si-O-Si、Si-CH₃特征吸收峰面积S_基、C_基；

步骤C：计算Si-O-Si、Si-CH₃特征吸收峰面积衰减程度△S和△C，计算公式如下：

步骤D：对Si-O-Si、Si-CH₃特征吸收峰面积衰减程度△S和△C进行分级判断，得出复合绝缘子老化状态程度。

2.根据权利要求1所述的基于红外光谱特征峰比值法的复合绝缘子老化评价方法，其特征在于，所述步骤A中包括以下步骤：

步骤E：从复合绝缘子伞裙上切取硅橡胶材料作为硅橡胶样品，并标记出所述硅橡胶样品的上下表面；

步骤G：对所述硅橡胶样品进行傅里叶光谱法测试，检测所述硅橡胶样品表面红外光谱Si-O-Si、Si-CH₃特征吸收峰面积S_表、C_表。

3.根据权利要求2所述的基于红外光谱特征峰比值法的复合绝缘子老化评价方法，其特征在于，在所述步骤E中，所述硅橡胶样品的尺寸为1cm×1cm×1cm，所述步骤B中包括以下步骤：

步骤H：在距所述硅橡胶样品的上表面2～3mm位置处，沿平行于上表面的方向将所述硅橡胶样品切开，选取切除上表面的余下部分作为所述硅橡胶样品的基体；

步骤I：对所述基体进行傅里叶光谱法测试，检测所述基体表面红外光谱Si-O-Si、Si-CH₃特征吸收峰面积S_基、C_基。

4.根据权利要求1或2或3所述的基于红外光谱特征峰比值法的复合绝缘子老化评价方法，其特征在于，所述步骤A和所述步骤B中分别采用傅里叶变换红外光谱仪对所述S_表、C_表、S_基和所述C_基进行检测。

5.根据权利要求4所述的基于红外光谱特征峰比值法的复合绝缘子老化评价方法，其特征在于，利用所述傅里叶变换红外光谱仪获取Si-O-Si、Si-CH₃特征吸收峰面积，具体包括以下步骤：

步骤I：设定所述傅里叶变换红外光谱仪波数扫描范围为400cm-1～4000cm-1，扫描频率为32Hz；

步骤J：采集背景信息；

步骤K：采集试品光谱图；

步骤L：对光谱信息进行分析，计算相应峰面积。

6.根据权利要求2所述的基于红外光谱特征峰比值法的复合绝缘子老化评价方法，其特征在于，所述步骤E和所述步骤G之间包括有：

步骤F：用无水乙醇润湿无菌棉擦拭所述硅橡胶样品表面，以肉眼不可见明显的自然污秽物作为清洁标准。

7.根据权利要求2所述的基于红外光谱特征峰比值法的复合绝缘子老化评价方法，其特征在于，在所述步骤G中，分别对所述硅橡胶样品的上下表面进行测试，取平均值作为最终的S_表和C_表。

8.根据权利要求1所述的基于红外光谱特征峰比值法的复合绝缘子老化评价方法，其特征在于，对Si-O-Si、Si-CH₃特征吸收峰面积衰减程度△S和△C进行分级判断，老化程度分级标准为：当△S≥75％，△C≥75％，为良好；当45％≤△S＜75，45％≤△C＜75，为一般老化；当△S＜45％，△C＜45％，为严重老化。