[发明专利]探针行程自动检测系统

说明书

本发明旨在提供一种提升检测质量、能自行匹配行程的探针行程自动检测系统。本发明包括工控机、处理器以及测试模组，所述测试模组包括导通夹具、三轴移动机构、压力测试头以及视觉模块，所述三轴移动机构带动所述压力测试头和所述视觉模块在所述导通夹具上方运动，所述压力测试头包括依次连接的压力传感器、绝缘块、测试夹头和测试针，所述测试针通过电阻检测模块与所述导通夹具电性连接，所述工控机通过所述处理器控制所述测试模组动作，通过所述压力传感器检测反馈的压力数值实现精准定位高度基准面，并根据探针可活动行程计算所述测试针的行程终点高度，实现精准检测。本发明应用于探针测试的技术领域。

技术领域

本发明应用于探针测试的技术领域,特别涉及一种探针行程自动检测系统。

背景技术

为了对电路板进行测试，通常需要通过带有探针结构的测试夹具进行电气性能的检测，小型电路板的测试夹具中测试探针的数量少，种类少，维护方便快捷，检修出错可能性低，能够通过人工进行快速的检修。然而针对于如电脑主板这类的大型电路板的测试夹具维护则较为困难，由于设置的探针数量多且密集，需要对每根探针进行单独的弹簧性能、电阻值以及导通性的测试，人工劳动强度高且效率低，错检漏检的几率大，无法保证检修质量。传统的检测设备通常采用下压机构带动压力传感器以及测试针下降并与探针接触，进行压力数据和电阻值的收集。不同种类的探针的长度尺寸以及行程并不相同，传统的检测设备无法匹配探针的型号进行对应测试，只能保持同一下压高度进行测试，无法提供准确检测结果，容易出现错检的情况。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种提升检测质量、能自行匹配行程的探针行程自动检测系统。

本发明所采用的技术方案是：本发明包括工控机、处理器以及测试模组，所述测试模组包括导通夹具、三轴移动机构、压力测试头以及视觉模块，所述三轴移动机构带动所述压力测试头和所述视觉模块在所述导通夹具上方运动，所述压力测试头包括依次连接的压力传感器、绝缘块、测试夹头和测试针，所述测试针通过电阻检测模块与所述导通夹具电性连接，所述工控机通过所述处理器控制所述测试模组动作，该自动检测系统按照以下步骤进行探针行程的自动检测：

S1.待检修的测试夹具装载在所述导通夹具上进行夹紧定位，待检修的测试夹具上的探针下端与所述导通夹具的连接座对接并导通；

S2.进入平面校准，所述三轴移动机构带动所述压力测试头移动至待检修的测试夹具上方，并在无探针的空旷区域下降，当所述测试针与待检修的测试夹具的底板接触时，所述压力传感器反馈压力数据至所述处理器，所述处理器控制所述三轴移动机构带动所述压力测试头缓慢上升，当所述压力传感器反馈压力数值为零时所述三轴移动机构停止动作，所述处理器将当前探针端部设定为基准高度；

S3.进行探针检测时通过所述视觉模块进行探针图像的拍摄，并通过所述处理器进行图像特征的对比识别当前探针的规格，根据所述工控机预设的探针参数调整所述压力测试头的下压行程终点，该行程终点的高度的值等于探针高于基准的高度与其工作时活动部件压缩距离做差的值，其中工作时探针的活动部件压缩距离为可活动长度的0.5至0.7。

由上述方案可见，通过采用压力检测的方式进行产品基准面的校准，确保所述测试针的下端面处于与待测夹具的安装板刚刚接触的状态，实现精确的定位基准面。通过所述视觉模块进行探针外形特征的拾取，并与预设的数据库对比进行探针类型的匹配。所述处理器感觉匹配的探针信息计算所述测试针下压行程终点距离高度基准面的距离，通过所述三轴移动机构带动所述压力测试头下压探针到指定高度，通过所述压力传感器检测探针的弹力数据，同一行程下反馈的压力数值大于正常值表示该探针未正确的安装在测试夹具的基板上，反馈的压力数值小于正常值则表示探针已老化，需要人工进行更换或检修。所述测试针与探针接触时，所述测试针与所述导通夹具连接的电阻检测电路导通，通过所述电阻检测模块进行待测探针电阻值的检测，以及待测探针能否导通的检测，所述电阻检测模块为常见的电阻检测电路。

一个优选方案是，设定的探针工作时压缩距离为该探针可活动长度的三分之二。