[发明专利]一种烤箱温度的确定方法、装置、烤箱及存储介质

说明书

本发明实施例公开了一种烤箱温度的确定方法、装置、烤箱及存储介质。该确定方法包括：获取多个采样周期中烤箱内部的温度探测点对应的探测点温度值，并根据所述探测点温度值确定所述烤箱的探测点保温参数；根据所述探测点保温参数确定所述烤箱内部的温度中心点对应的中心点保温参数；基于所述中心点保温参数确定所述烤箱的中心点温度方程，并通过所述中心点温度方程确定所述烤箱的温度值。本发明实施例的技术方案，以实现提高烤箱温度检测的精度和准确性。

技术领域

本发明实施例涉及烤箱技术领域，尤其涉及一种烤箱温度的确定方法、装置、烤箱及存储介质。

背景技术

烤箱是一种密封的用来烤食物或烘干产品的电器，分为家用电器和工业烤箱。电烤箱是利用电热元件所发出的辐射热来烘烤食品的电热器具，根据烘烤食品的不同需要，电烤箱的温度一般可在50-250℃范围内调节。

电烤箱在工作过程中需要对烤箱腔体内几何中心点的温度进行控制，但由于烤箱结构的限制，温度传感器通常安装在烤箱内胆背板顶部，无法直接测量烤箱中心温度点。目前大多数烤箱在产品开发过程中，通过理论分析或者试验的方法建立传感器探测点和中心点温度的关系式来估算烤箱中心点温度。

现有技术对烤箱中心点温度的测量的缺点在于：探测点与中心点温度的关系式在烤箱生产前就已经确定，无法根据烤箱的具体参数的改变而改变。但是，烤箱的每个零部件的技术参数都有一定的公差范围，对烤箱中心点温度的测量使用同一个关系式无法适用于每个烤箱，将会导致在烤箱实际使用过程中烤箱中心点温度探测的精度不足。此外，烤箱的保温棉、加热管等主要零件的性能会随着使用年限的增加而降低，则通过使用同一个关系式来估算烤箱中心点温度，其估算的准确度将降低。

发明内容

本发明实施例提供一种烤箱温度的确定方法、装置、烤箱及存储介质，以实现提高烤箱温度检测的精度和准确性。

第一方面，本发明实施例提供了一种烤箱温度的确定方法，该确定方法包括：

获取多个采样周期中烤箱内部的温度探测点对应的探测点温度值，并根据所述探测点温度值确定所述烤箱的探测点保温参数；

根据所述探测点保温参数确定所述烤箱内部的温度中心点对应的中心点保温参数；

基于所述中心点保温参数确定所述烤箱的中心点温度方程，并通过所述中心点温度方程确定所述烤箱的温度值。

进一步的，根据所述探测点温度值确定所述烤箱的探测点保温参数，包括：

根据所述探测点温度值确定所述烤箱的探测点温升速率值；

基于所述探测点温升速率值确定所述烤箱的探测点保温参数。

进一步的，根据所述探测点温度值确定所述烤箱的探测点温升速率值，包括：

根据相邻两个采样周期对应的探测点温度值的差值确定所述烤箱的探测点温升速率值。

进一步的，所述探测点保温参数包括第一探测点保温参数、第二探测点保温参数和第三探测点保温参数；

相应的，基于所述探测点温升速率值确定所述烤箱的探测点保温参数，包括：

基于所述探测点温升速率值通过公式(1)计算得到所述第一探测点保温参数、所述第二探测点保温参数和所述第三探测点保温参数；

其中，为探测点温升速率值，A₂为第一探测点保温参数，B₂为第二探测点保温参数，C₂为第三探测点保温参数，t为烤箱的加热时间。

进一步的，所述中心点保温参数包括第一中心点保温参数、第二中心点保温参数和第三中心点保温参数；