[发明专利]一种污染场地调查布点的方法

权利要求书

1.一种污染场地调查布点的方法，其特征在于，包括以下步骤：

（1）在调查区域进行网格采样布点，采样点位布设在网格中心位置，网格间距不大于40m×40 m，然后采集土样；

（2）检测步骤（1）所得采集土样的各项污染指标；

（3）对步骤（2）所测指标含量进行数据描述性统计分析，主要衡量指标为偏度，峰度，变异系数，K-S test检验值；若偏度远偏离0，峰度远偏离3，变异系数大于75%，K-S test检验指标小于0.05，表明数据的空间自相关性很弱，判断不符合正态分布；

（4）将步骤（2）所得数据导入ArcGIS工具创建泰森多边形，每个点位对应一个泰森多边形，将所有泰森多边形分为未超标点所在A区域和超标点位所在B区域；

（5）在整个调查区域内，对步骤（2）所得未超标点位进行普通克里金法即OK插值；对步骤（2）所得所有点位进行若干种确定性插值方法比选，经交叉检验选出最佳的一种或两种以上的确定性插值方法；

（6）利用ArcGIS栅格工具，在步骤（4）得到的A区域提取步骤（5）得到的普通克里金法即OK插值结果；在步骤（4）得到的B区域提取步骤（5）得到的最佳确定性方法插值结果；将A、B区域提取结果进行合并，形成一种或两种以上组合的调查区域完整污染插值结果；

（7）对步骤（6）得到的插值结果进行交叉检验精度分析，得到唯一最佳的插值方法组合；

（8）对已超标和怀疑超标的点位附近进行加密点位布设，对加密后的所有点位重复步骤（4）至（7），得到进一步的最佳插值方法组合；

步骤（5）中所应用的确定性插值方法为反距离插值法即IDW、径向基函数法中的薄板样条函数即Thin plate spline、张力样条函数即Spline with tension、规则样条函数即Completely regularized spline、高次曲面函数即Multiquadric、反高次曲面函数即Inverse multiquadric中的一种或两种以上；

步骤（5）和（7）中，交叉验证的指标是平均预测误差ME、平均绝对误差MAE、平均相对误差MRE、均方根误差RMSE、非超标点识别为超标的数量、污染面积中的一种或两种以上。

2.根据权利要求1所述的污染场地调查布点的方法，其特征在于，还包括步骤（8）进行补充采样和插值方法组合的重复，以实现对预测精度更细化的要求。

3.根据权利要求1或2所述的污染场地调查布点的方法，其特征在于，步骤（1）中，调查区域面积在0.05 km²-0.45 km²范围内；采用网格布点法布设采样点时，土壤采样深度在0-6m范围内，且分析的土壤样品为同一深度采得。

4.根据权利要求1或2所述的污染场地调查布点的方法，其特征在于，步骤（2）中，污染指标为重金属污染指标或有机物污染指标；所述的重金属污染指标为土壤中砷、镉、铬、铜、铅、汞、镍或锌中的一种或两种以上的含量。

5.根据权利要求1或2所述的污染场地调查布点的方法，其特征在于，步骤（4）中所述的超标，其判断依据是所测污染物含量是否超过《土壤环境质量 建设用地土壤污染风险管控标准（试行）》（GB36600-2018）中所规定的评价标准。