[发明专利]一种TOSA的自动测试系统及测试方法

说明书

本发明公开了一种TOSA的自动测试系统及测试方法，其用于测试内置有TEC和热敏电阻的TOSA，其包含用于对TOSA发出的激光进行测试的测试单元、为TOSA提供驱动电流并对TOSA的电流和/或电阻进行测试/采集的调节单元以及监控调节单元和测试单元的计算机单元。该自动测试系统通过计算机单元和调节单元在不同温度的外部环境下实现TOSA内部的TEC的自动调节，并通过测试单元输出TOSA的光电参数测试结果，由计算机单元监控并记录调节单元和测试单元的输出结果，通过对TOSA高温与常温、低温与常温的光电参数结果对比，自动得出TOSA的合格判定结果，操作简便，精准度高，测试效率高。

技术领域

本发明涉及激光器的产品检测领域，特别是一种TOSA的自动测试系统及测试方法。

背景技术

固定波长的TOSA(Transmit Optical Sub-Assembl，光发射器件/组件) 在光纤通信领域具有广泛的应用。但是TOSA发射的激光波长容易受到环境温度的影响而发生漂移。有研究表明，在工作电流恒定的情况下，TOSA的温度每升高1℃，发射的激光波长将增加70-150pm。但是用户在使用时，通常希望在不同温度的外部环境下(例如高温、低温和常温环境下)，TOSA发射出的激光波长能保持恒定。

在上述情况下，现有的固定波长的TOSA通常内置有TEC(Thermo ElectricCooler，热电制冷器)，其在外加电流的作用下，可以切换制冷或者制热模式，从而为所述固定波长的TOSA进行升温(外界环境为低温时)或降温(外界环境为高温时)以达到指定温度，然后对温度调节前后TOSA发射出的激光的光电参数(包括光谱中心波长)进行测试和对比，从而判断该TOSA产品是否合格或满足用户需求。

但是目前对这类带有TEC的固定波长的TOSA的测试多为手动测试，这一方面会增加测试难度，工作效率较低，每调一次TEC的外加电流参数，就需要观察一次TOSA发射出的激光波长(光谱中心波长)，反复多次手动调节和观察直至波长达到指定值；另一方面手动测试的精准度较低。实验表明，手动调节测试调节TEC电流参数时，调节10mA，波长变化一百多pm，调节1mA，波长变化十几pm，调节0.1mA，波长变化2pm左右，无法实现精准调节。因此，研究开发一种带有TEC的固定波长的TOSA的自动测试系统及方法具有重要意义。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种精准度好、测试效率高的TOSA的自动测试系统及方法，其可以克服现有技术的缺陷，精准、快速地得到测试结果，提高工作效率。

为实现上述目的，本发明提供了一种TOSA的自动测试系统，其包括：

夹具，具有密封腔，所述密封腔用于容置所述待测试TOSA并为所述待测试TOSA提供不同的外部温度环境；

测试板组件，固定安装在所述密封腔内，与所述TOSA电连接，且具有电气连接插口；

测试单元，与所述TOSA通过光纤连接，至少包含光谱测试装置和功率测试装置；

调节单元，通过连接线连接所述电气连接插口，用于向所述待测试TOSA 提供驱动电流以及测试/采集所述待测试TOSA的电流和/或电阻参数；以及

计算机单元，控制连接所述测试单元和调节单元，监控所述测试单元和所述调节单元。

优选地，所述测试板组件包含底板和PCB板，所述PCB板垂直插设在所述底板上，所述PCB板与所述待测试TOSA连接，所述底板上设有所述电气连接插口。

优选地，所述底板设置在所述密封腔的底部，所述待测试光器件待测试 TOSA与所述底板平行设置。

优选地，所述密封腔具有进气通道，所述进气通道用于向所述密封腔内输入不同温度的气体。

进一步地，所述密封腔的进气通道的出口位于所述待测试TOSA的正上方。