[发明专利]时延失配校准方法及装置、计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202011061045.1 申请日: 2020-09-30
公开(公告)号: CN112203303A 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: 栾亦夫;李开;罗丽云 申请(专利权)人: 锐迪科创微电子(北京)有限公司
主分类号: H04W24/02 分类号: H04W24/02;H04W24/08;H04B17/11;H04B17/10
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李笑笑;张振军
地址: 100083 北京市海淀区知*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 失配 校准 方法 装置 计算机 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种时延失配校准方法,其特征在于,包括:

控制发射机发射第三信号;

获取发射所述第三信号时的邻道泄漏比,所述邻道泄露比包括:当前信道的发射功率与泄漏至左侧信道的辐射功率的第一邻道泄露比,以及,当前信道的发射功率与泄漏至右侧信道的辐射功率的第二邻道泄露比;所述左侧信道对应的载波频率小于发射所述第三信号对应的当前信道的载波频率,所述当前信道的载波频率小于所述右侧信道对应的载波频率,所述当前信道为发送所述第三信号使用的信道;

计算所述第一邻道泄漏比与所述第二邻道泄露比的第二差异值,并根据所述第二差异值确定第二时延调整值;

采用所述第二时延调整值对所述幅度信号与所述相位信号之间的时延失配进行校准。

2.如权利要求1所述的时延失配校准方法,其特征在于,所述第二时延调整值与所述第二差异值正相关。

3.如权利要求1所述的时延失配校准方法,其特征在于,所述第三信号为非恒幅带限调制信号。

4.如权利要求1所述的时延失配校准方法,其特征在于,还包括:对相位信号所经过的低通通路与高通通路的时延失配进行校准。

5.如权利要求4所述的时延失配校准方法,其特征在于,所述对相位信号所经过的低通通路与高通通路的时延失配进行校准,包括:

调整锁相环的环路带宽至第一带宽;

控制发射机发射第一信号,所述锁相环位于所述发射机中;所述第一信号包括n个符号,且相邻比特值不等;

获取所述发射机发射所述第一信号时,与所述n个符号一一对应的最大频偏,并计算n个最大频偏的平均值;

调整所述锁相环的环路带宽至第二带宽,所述第二带宽与所述第一带宽不相等;

控制所述发射机发射第二信号;所述第二信号包括m个符号,且相邻比特值不等;

获取所述发射机发射所述第二信号时,与所述m个符号一一对应的最大频偏,并计算m个最大频偏的平均值;

根据所述n个最大频偏的平均值与所述m个最大频偏的平均值之间的第一差异值,确定第一时延调整值;

采用所述第一时延调整值对所述高通通路与所述低通通路的时延失配进行校准。

6.如权利要求5所述的时延失配校准方法,其特征在于,所述n个最大频偏的平均值与所述m个最大频偏的平均值之间的第一差异值,与所述第一时延调整值正相关。

7.如权利要求5所述的时延失配校准方法,其特征在于,在采用所述第一时延调整值对所述高通通路与所述低通通路的时延失配进行校准后,还包括:

控制所述发射机重新发射所述第一信号;

重新获取所述发射机发射所述第一信号时,与所述n个符号一一对应的最大频偏,并重新计算n个最大频偏的平均值;

将重新计算得到的所述n个最大频偏的平均值与理论值进行比较,确定发射机高通通路与低通通路之间的增益失配程度。

8.如权利要求5所述的时延失配校准方法,其特征在于,在采用所述第一时延调整值对所述高通通路与所述低通通路的时延失配进行校准后,还包括:

控制所述发射机重新发射所述第二信号;

重新获取所述发射机发射所述第二信号时,与所述m个符号一一对应的最大频偏,并重新计算m个最大频偏的平均值;

将重新计算得到的所述m个最大频偏的平均值与理论值进行比较,确定发射机高通通路与低通通路之间的增益失配程度。

9.如权利要求5所述的时延失配校准方法,其特征在于,所述第一信号为频移键控信号。

10.如权利要求5所述的时延失配校准方法,其特征在于,所述第二信号为频移键控信号。

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