[发明专利]发光二极管外延片的生长方法有效

专利信息
申请号: 202011061544.0 申请日: 2020-09-30
公开(公告)号: CN112186080B 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 从颖;姚振;梅劲 申请(专利权)人: 华灿光电(苏州)有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/12;H01L33/02
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 吕耀萍
地址: 215600 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 发光二极管 外延 生长 方法
【权利要求书】:

1.一种发光二极管外延片的生长方法,所述生长方法包括:

提供一衬底;

在所述衬底上依次生长N型层、有源层和P型层;

其特征在于,在所述衬底上生长N型层包括:

在所述衬底上生长多个周期交替生长的第一N型层和第二N型层,

其中,在高温低温交替的条件下,以第一转速生长所述第一N型层,在低温条件下,以第二转速生长所述第二N型层;

所述第一转速大于所述第二转速,所述第一N型层中Si的掺杂浓度大于所述第二N型层中Si的掺杂浓度。

2.根据权利要求1所述的生长方法,其特征在于,在高温低温交替的条件下,生长所述第一N型层,包括:

在高温低温交替的条件下,生长多层第一N型子层,所述高温为1120~1150℃,所述低温为1080~1120℃。

3.根据权利要求2所述的生长方法,其特征在于,所述第一N型子层的厚度为20~50nm。

4.根据权利要求1所述的生长方法,其特征在于,所述第一转速为1200~1500rpm。

5.根据权利要求1所述的生长方法,其特征在于,所述第二转速为200~500rpm。

6.根据权利要求1所述的生长方法,其特征在于,所述第二N型层中Si的掺杂浓度是所述第一N型层中Si的掺杂浓度的0.05~0.1倍。

7.根据权利要求6所述的生长方法,其特征在于,所述第一N型层中Si的掺杂浓度为8*1018~2*1019cm-3

8.根据权利要求1至7任一项所述的生长方法,其特征在于,在所述衬底上生长多个周期交替生长的第一N型层和第二N型层,包括:

在所述衬底上生长m个周期交替生长的第一N型层和第二N型层,2≤m≤6,所述第一N型层的厚度为150~350nm,所述第二N型层的厚度为20~50nm。

9.根据权利要求1至7任一项所述的生长方法,其特征在于,在所述衬底上生长多个周期交替生长的第一N型层和第二N型层,包括:

在氢气、氮气和氨气的混合气氛下,生长所述第一N型层;

减少所述氢气、所述氮气和所述氨气的通入量,生长所述第二N型层。

10.根据权利要求9所述的生长方法,其特征在于,生长所述第一N型层时,所述氢气、所述氮气和所述氨气的通入量的和为生长所述第二N型层时,所述氢气、所述氮气和所述氨气的通入量的和的1.2~1.5倍。

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