[发明专利]发光二极管外延片的生长方法有效
申请号: | 202011061544.0 | 申请日: | 2020-09-30 |
公开(公告)号: | CN112186080B | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
发明(设计)人: | 从颖;姚振;梅劲 | 申请(专利权)人: | 华灿光电(苏州)有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/12;H01L33/02 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 吕耀萍 |
地址: | 215600 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光二极管 外延 生长 方法 | ||
1.一种发光二极管外延片的生长方法,所述生长方法包括:
提供一衬底;
在所述衬底上依次生长N型层、有源层和P型层;
其特征在于,在所述衬底上生长N型层包括:
在所述衬底上生长多个周期交替生长的第一N型层和第二N型层,
其中,在高温低温交替的条件下,以第一转速生长所述第一N型层,在低温条件下,以第二转速生长所述第二N型层;
所述第一转速大于所述第二转速,所述第一N型层中Si的掺杂浓度大于所述第二N型层中Si的掺杂浓度。
2.根据权利要求1所述的生长方法,其特征在于,在高温低温交替的条件下,生长所述第一N型层,包括:
在高温低温交替的条件下,生长多层第一N型子层,所述高温为1120~1150℃,所述低温为1080~1120℃。
3.根据权利要求2所述的生长方法,其特征在于,所述第一N型子层的厚度为20~50nm。
4.根据权利要求1所述的生长方法,其特征在于,所述第一转速为1200~1500rpm。
5.根据权利要求1所述的生长方法,其特征在于,所述第二转速为200~500rpm。
6.根据权利要求1所述的生长方法,其特征在于,所述第二N型层中Si的掺杂浓度是所述第一N型层中Si的掺杂浓度的0.05~0.1倍。
7.根据权利要求6所述的生长方法,其特征在于,所述第一N型层中Si的掺杂浓度为8*1018~2*1019cm-3。
8.根据权利要求1至7任一项所述的生长方法,其特征在于,在所述衬底上生长多个周期交替生长的第一N型层和第二N型层,包括:
在所述衬底上生长m个周期交替生长的第一N型层和第二N型层,2≤m≤6,所述第一N型层的厚度为150~350nm,所述第二N型层的厚度为20~50nm。
9.根据权利要求1至7任一项所述的生长方法,其特征在于,在所述衬底上生长多个周期交替生长的第一N型层和第二N型层,包括:
在氢气、氮气和氨气的混合气氛下,生长所述第一N型层;
减少所述氢气、所述氮气和所述氨气的通入量,生长所述第二N型层。
10.根据权利要求9所述的生长方法,其特征在于,生长所述第一N型层时,所述氢气、所述氮气和所述氨气的通入量的和为生长所述第二N型层时,所述氢气、所述氮气和所述氨气的通入量的和的1.2~1.5倍。
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