[发明专利]模块化测试装置及其应用的测试设备

说明书

本发明提供一种模块化测试装置，包含承置单元、测试单元及压接单元，承置单元的载具承置可滑移的测试单元，测试单元的承板配置复数个测试器，测试器供承置及测试复数个电子元件，压接单元以可拆式框架装配于承置单元的载具，框架装配复数个压接器，复数个压接器对位于复数个测试器，以模块化测试装置利于修护更换，并于测试单元滑出载具时而供便利取放一批次复数个电子元件，以及于滑入载具时而供压接单元压接复数个电子元件执行测试作业，进而提高使用效能。

技术领域

本发明涉及一种模块化而利于修护更换，并提高作业便利性的模块化测试装置。

背景技术

在现今，电子元件于制作完毕后，必须以测试设备对电子元件执行测试作业，以淘汰出不良品。请参阅图1，目前测试设备于机台11的前段部配置供料装置12及收料装置13，于后段部水平排列配置复数个测试装置14A、14B、14C、14D、14E、14F，以测试装置14A为例，其于机台11固设二电性连接的测试座141A及电路板142A，以供对电子元件执行测试作业，测试装置14A另于机台11设置机架143A，机架143A装配压接器144A，压接器144A对应于测试座141A，以供下压测试座141A内的电子元件执行测试作业；测试设备以输送器15伸入于测试装置14A，而于测试座141A取出一已测电子元件，以及将一待测电子元件移入测试座141A而接续执行测试作业，依此类推，输送器15依序于复数个测试装置14B、14C、14D、14E、14F执行取出已测电子元件及放置待测电子元件的作业；然而，输送器15必须多次往复出入复数个测试装置14A、14B、14C、14D、14E、14F，方可移入或移出单一电子元件，不仅增加作动时序而耗费时间，更降低测试产能。另于更换不同型式的测试座、电路板及压接器时，必须逐一于各测试装置14A、14B、14C、14D、14E、14F拆卸测试座、电路板及压接器，以致更换作业繁琐耗时。再者，测试装置14A为供输送器15可移入于压接器144A与测试座141A之间，而必须增加机架143A及压接器144A的架设高度，不仅增加测试装置14A的体积，更延长压接器144A的下压行程而增加作业时间。

发明内容

本发明的目的在于：提供一种模块化测试装置及其应用的测试设备，解决现有技术中存在的上述技术问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种模块化测试装置，其特征在于，包含：

承置单元：设有一载具；

测试单元：包含承板及复数个测试器，该承板能够移入/移出于该承置单元的该载具，该复数个测试器装配于该承板，以供承置及测试该复数个电子元件；

压接单元：包含框架及复数个压接器，该框架装配于该承置单元的该载具，该复数个压接器装配于该框架，以供压接该复数个测试器的该复数个电子元件。

所述的模块化测试装置，其中，还包含一驱动单元，该驱动单元设有至少一驱动器，以驱动该测试单元位移。

所述的模块化测试装置，其中，该测试单元的该承板与该承置单元的该载具间设有至少一滑轨组。

所述的模块化测试装置，其中，该测试单元的该承板设有复数个支撑部件，该复数个支撑部件供承置支撑该复数个测试器。

所述的模块化测试装置，其中，该压接单元于该载具与该框架间设有至少一快拆器。

所述的模块化测试装置，其特征在于，该压接单元的该压接器包含：

第一活动件；

第二活动件：沿作业轴线而与该第一活动件作相对配置；

作业件：装配于该第一活动件，以供压接电子元件；

驱动源：以供驱动该第一活动件及该第二活动件作反向位移；