[发明专利]超声无损检测缺陷位置回溯方法

说明书

本发明公开了一种超声无损检测缺陷位置回溯方法，其包括以下步骤：对工件进行超声波扫描，并对扫描轨迹路径进行位置编码，得到扫描信号数据和编码位置数据；根据扫描信号数据和编码位置数据生成图像；在图像上找出缺陷位置并选取，获取所选图像区域中心对应的编码位置；根据所选图像区域中心对应的编码位置，回溯至工件实际对应的缺陷位置处。本发明可以在无损检测的过程中先对工件进行整体扫描，整体扫描虽然耗时长，但是全程可以无专业人员参与，而当扫描完成后，再找出缺陷位置，然后根据缺陷位置对应的编码位置，在扫描后也可来到工件的缺陷位置点上，再进行标识、修复或者复检等操作，从而有利于提高检测效率和降低成本。

技术领域

本发明涉及超声波无损检测技术领域，特别涉及一种超声无损检测缺陷位置回溯方法。

背景技术

超声波无损探测是使用一种基于超声波技术进行材料检测的方法，其主要利用超声波探头产生的超声透入物体材料的深处，并由一截面进入另一截面时，在界面边缘发生反射的特点来检查零件缺陷的一种方法。当超声波束自零件表面由探头通至金属内部，遇到缺陷与零件底面时就分别发生反射波，超声波探测仪从超声波探头获取到这些反射波，形成数据及图片，根据这些数据及图片来判断缺陷位置和大小。在进行超声波无损探测时，常常需要携带超声波探头沿着工件的表面移动扫描，当扫描到存在缺陷的位置时，常常需要停止扫描，先在工件的缺陷位置处进行标识或者修复等，然后再继续进行扫描；对工件进行扫描往往需要花费大量的时间，特别是在工件尺寸较大时，而对扫描数据进行处理并识别出缺陷位置，也往往需要专业人员全程进行参与，这将在很大程度上影响超声波无损检测的效率，并浪费人力资源成本。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种超声无损检测缺陷位置回溯方法，其能够先对工件进行全面扫描，在扫描全部完成后，再找出缺陷位置并回溯至缺陷位置，从而提高检测效率。

根据本发明实施例的超声无损检测缺陷位置回溯方法，包括以下步骤：

对工件进行超声波扫描，并对扫描轨迹路径进行位置编码，得到扫描信号数据和编码位置数据；

根据扫描信号数据和编码位置数据生成图像；

在图像上找出缺陷位置并选取，获取所选图像区域中心对应的编码位置；

根据所选图像区域中心对应的编码位置，回溯至工件实际对应的缺陷位置处。

根据本发明实施例的超声无损检测缺陷位置回溯方法，至少具有如下有益效果：通过在对工件进行扫描的过程中，实时对扫描轨迹路径进行位置编码，在扫描完成后，根据扫描信号数据和编码位置数据生成的图像数据将与编码数据位置对应，当后续在图像中发现存在缺陷时，直接对缺陷位置的图像进行选取，就可以获取到所选图像区域中心所对应的编码位置，最后根据这一编码位置数据，再反过来驱动相应装置来到工件上实际上有缺陷的位置处，完成回溯；通过本实施例提供的超声无损检测缺陷位置回溯方法，可以在无损检测的过程中先对工件进行整体扫描，整体扫描虽然耗时长，但是全程可以无专业人员参与，而当扫描完成后，再通过在图像中找出缺陷位置，然后根据对应的编码位置，在扫描后也可使得超声波探头、标识设备或者修复装置等来到工件的缺陷位置点上，再进行标识、修复或者复检等操作，从而有利于提高检测效率和降低成本。

根据本发明的一些实施例，在图像中找出缺陷位置并选取，包括有以下步骤：图像在屏幕上显示，操作人员对图像进行判读，并在图像中存在缺陷的位置画框，进行框选。

根据本发明的一些实施例，在图像中找出缺陷位置并选取，包括有以下步骤：预设缺陷图像面积；通过颜色和/或阈值分割，将区别于无缺陷区域的颜色区域提取；判断提取出的颜色区域面积是否超过预设的缺陷图像面积，超过，则对分割出的颜色区域进行外接图形拟合形成图框，进行框选。