[发明专利]温度传感器精度测试系统、测试方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种温度传感器精度测试系统，其特征在于，包括：标准铂电阻、待检测温度传感器、测试恒温槽、堆栈式温度巡检模块、多通道通讯模块以及检定校准控制器；

所述标准铂电阻以及所述待检测温度传感器设置在所述恒温槽中，且所述标准铂电阻以及所述待检测温度传感器与所述堆栈式温度巡检模块相连，所述堆栈式温度巡检模块获取所述标准铂电阻的当前阻值以及所述待检测温度传感器的当前阻值；

所述测试恒温槽通过所述多通道通讯模块与所述堆栈式温度巡检模块以及所述检定校准控制器相连，所述检定校准控制器基于所述标准铂电阻的当前阻值以及所述待检测温度传感器的当前阻值，确定出目标校准数据。

2.根据权利要求1所述的温度传感器精度测试系统，其特征在于，所述测试恒温槽至少包括恒温油槽、恒温酒精槽以及恒温水槽中的一个或多个。

3.根据权利要求1所述的温度传感器精度测试系统，其特征在于，所述堆栈式温度巡检模块包括：第一控制器以及至少一个功能子模块；

所述第一控制器与所述功能子模块相连，基于获取到的所述标准铂电阻的当前阻值以及所述待检测温度传感器的当前阻值，生成控制信号；

所述功能子模块基于所述控制信号执行相应操作。

4.根据权利要求1所述的温度传感器精度测试系统，其特征在于，所述多通道通讯模块为多通道232通讯盒。

5.一种测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1-4中任意一项所述的温度传感器精度测试系统，其中，所述标准铂电阻以及所述待检测温度传感器设置在所述恒温槽中，所述标准铂电阻以及所述待检测温度传感器与所述堆栈式温度巡检模块相连，所述测试恒温槽通过所述多通道通讯模块与所述堆栈式温度巡检模块以及所述检定校准控制器相连，所述测试方法包括：

获取所述标准铂电阻的当前阻值以及所述待检测温度传感器的当前阻值；

基于所述标准铂电阻的当前阻值以及所述待检测温度传感器的当前阻值，确定出目标校准数据。

6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述堆栈式温度巡检模块包括：第一控制器以及至少一个功能子模块，所述测试方法还包括：

基于获取到的所述标准铂电阻的当前阻值以及所述待检测温度传感器的当前阻值，生成控制信号；

基于所述控制信号执行相应操作。

7.一种测试装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取所述标准铂电阻的当前阻值以及所述待检测温度传感器的当前阻值；

确定模块，用于基于所述标准铂电阻的当前阻值以及所述待检测温度传感器的当前阻值，确定出目标校准数据。

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，还包括：

生成模块，用于基于获取到的所述标准铂电阻的当前阻值以及所述待检测温度传感器的当前阻值，生成控制信号；

执行模块，用于基于所述控制信号执行相应操作。

9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述存储介质所在设备执行权利要求5至6中任意一项所述的测试方法。