[发明专利]基于机械臂的天线测试系统、方法及装置有效

专利信息
申请号: 202011063189.0 申请日: 2020-09-30
公开(公告)号: CN111965439B 公开(公告)日: 2023-08-01
发明(设计)人: 张金平;邓晔;李斌;马天野 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十四研究所
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;G01R1/04
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 熊敏敏;高娇阳
地址: 210039 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 基于 机械 天线 测试 系统 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种基于机械臂的天线测试系统,用于对待测天线(6)进行测试,其特征在于,包括伺服子系统、射频子系统、协同控制机柜(10)和数据处理子系统,其中:

伺服子系统,所述伺服子系统包括天线架设平台(1),安装在天线架设平台(1)上的机械臂(2),以及根据数据处理子系统的指令移动机械臂(2)的机械臂控制机柜(5);所述待测天线(6)固定在天线架设平台(1)上;

射频子系统,所述射频子系统包括固定在机械臂(2)上的测试探头(7),矢量分析仪(8)以及相应射频连接电缆;矢量分析仪(8)、待测天线(6)与测试探头(7)相互之间的电磁场传播路径、以及射频电缆构成完整射频传输闭环链路;矢量分析仪(8)根据所述数据处理子系统的指令采集各个测试采样点的微波信号,并发送给数据处理子系统;

协同控制机柜(10),所述协同控制机柜(10)接收数据处理子系统的工作指令,将工作指令转换为定时控制时序输出至机械臂控制机柜(5)和矢量分析仪(8);矢量分析仪(8)以及由机械臂控制机柜(5)控制的机械臂(2)在该时序驱动下开始同步工作,自动完成测试探头(7)在设定测试采样点的坐标定位及相关射频幅相数据的采集,并将采集的数据返回到数据处理子系统;当机械臂(2)抵达至每一个测试模式所指定的采样点时停顿,并且矢量分析仪(8)在机械臂(2)抵达该采样点位置时刻完成对该状态下的微波信号的采集,直至所有采样点完成遍历测试;

数据处理子系统,与机械臂控制机柜(5)、矢量分析仪(8)、协同控制机柜(10)协同完成测试采样点的定位及测试采样点微波信号的采集。

2.根据权利要求1所述的基于机械臂的天线测试系统,其特征在于,天线架设平台(1)上表面和测试探头(7)周边铺设有吸波材料。

3.根据权利要求1所述的基于机械臂的天线测试系统,其特征在于,所述天线架设平台(1)上还设置有机械臂导轨(4),机械臂(2)通过机械臂导轨(4)与天线架设平台(1)相连接,可沿机械臂导轨(4)进行位置调节和固定。

4.根据权利要求3所述的基于机械臂的天线测试系统,其特征在于,所述天线架设平台(1)上表面与机械臂导轨(4)相对的一角安装有待测天线支架(3),用于固定待测天线(6)。

5.根据权利要求1所述的基于机械臂的天线测试系统,其特征在于,所述矢量分析仪(8)设置有发射端射频端口,通过射频电缆与待测天线(6)连接;和接收端射频端口,通过射频电缆与测试探头(7)连接。

6.根据权利要求5所述的基于机械臂的天线测试系统,其特征在于,还包括变频模块,矢量分析仪(8)通过该变频模块,与待测天线(6)和测试探头(7)进行连接,将微波信号从高于矢量分析仪(8)可测的频率变频到矢量分析仪(8)可测的频率。

7.根据权利要求1所述的基于机械臂的天线测试系统,其特征在于,所述数据处理子系统,根据采集的测试数据完成待测天线方向图绘制和输出。

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