[发明专利]一种双频干涉成像高度计高精度基线估计方法有效

专利信息
申请号: 202011065491.X 申请日: 2020-09-30
公开(公告)号: CN112305512B 公开(公告)日: 2023-07-28
发明(设计)人: 刘磊;张庆君;刘杰;陆翔;王爱明;李堃;刘红雨;边明明;肖遥;张云华;杨杰芳 申请(专利权)人: 北京空间飞行器总体设计部
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 徐晓艳
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 双频 干涉 成像 高度计 高精度 基线 估计 方法
【说明书】:

本发明涉及一种双频干涉成像高度计高精度基线估计方法,该方法基于星上实时测量基线长度和基线倾角值,作为基线估计初值,基于参考目标的高度信息和干涉成像高度计的观测几何,开展高精度联合估计基线;考虑到双频干涉成像高度计同时工作在Ka频段和Ku频段,在实现场景宽幅覆盖的同时,Ka和Ku频段还存在观测重叠区域,利用重叠区域海面高度值一定,进一步提升在轨基线估计精度。本发明既发挥Ka频段受到电离层影响小,又发挥Ku频段受对流层(云雨)影响小的优势,进一步提升基线长度估计精度达到亚毫米级,基线倾角精度达到亚角秒级。

技术领域

本发明涉及一种双频干涉成像高度计高精度基线估计方法,适用于卫星海洋遥感等技术领域。

背景技术

测量海面高度的高度计主要有脉冲星下点高度计、综合孔径星下点高度计、干涉成像高度计。脉冲星下点高度计和综合孔径星下点高度计易于实现高精度测量,但无法实现宽幅测高要求。干涉成像高度计通过干涉相位提取高程,容易实现宽幅测量,同时也可保证高精度。图1给出了干涉测高的示意图,通过测量双天线相位中心到观测P的相位差经过相位解缠绕后得到路径差Δr=r1-r2,再根据对干涉基线倾角和长度测量便可得到由B,r1和r2这三条边所对构成的三角形关系,进而便可得到P点的高度测量值h。

自1973年,美国的Skylab验证了星载雷达高度计的方案以来,测量高度探测卫星精度发展迅速,目前在轨的星下点高度计和综合孔径高度计卫星包括美/法的Jason-2卫星、欧空局的Cryosat-2卫星、印度的Saral卫星、欧空局的Sentinel-3A/B卫星和我国的HY-2A/B卫星。

海洋环境预报、海面中尺度现象观测对高时效性、大幅宽海面高度测量提出较高要求,为此海面测高向干涉成像高度计体制发展。比较有代表性有美国在研SWOT卫星(地表水与海洋地形)的Ka频段干涉成像高度计、我国天宫二号搭载的Ku频段干涉成像高度计,后续干涉成像高度计逐渐向双频方向发展。基线定义为在地固坐标系下,两副天线相位中心的空间矢量几何关系,基线估计精度是影响成像高度计测高误差的关键因素,为了满足双频干涉成像高度计的高精度基线估计的需求,所以有必要设计一种双频干涉成像高度计高精度基线估计方法,满足亚毫米基线长度估计和亚角秒级基线角度估计需求。

国内专利CN201410630084.7题为一种雷达高度计小入射角干涉的海面高度高精度提取方法,幅宽度大且时空分辨率高,可以应用于洋流、海洋潮汐、涡旋等海洋中小尺度现象的观测,以及近海、海冰冰架、陆地水文的观测。该专利都提出干涉成像高度计测量海面高度的方法,但是未涉及双频段干涉成像高度计及其基线估计方法。国内专利CN201711158570.3题为一种天基干涉成像雷达高度计的干涉定标方法及系统,通过拟合估计解缠相位对雷达视角的敏感性,可将干涉基线和干涉相位偏置的估计分离开来,最终实现基线长度、基线倾角和干涉相位偏置三个参数的完整估计。该专利仅采用信号处理方法进行基线估计,无法满足大幅宽、高精度成像高度计对基线估计的需求。

所以,有必要基于在轨高精度基线测量和卫星姿态测量值,设计一种面向双频干涉成像高度计的、高精度、星地联合的基线估计方法。

发明内容

本发明解决的技术问题是:克服现有技术的不足,提出一种双频干涉成像高度计高精度基线估计方法,解决了双频干涉成像高度计亚毫米基线长度、亚角秒基线角度的参数估计问题。

本发明解决技术的方案是:一种双频干涉成像高度计高精度基线估计方法,双频干涉成像高度计包括第一天线、第二天线、第三天线、第四天线,其中,第一天线、第二天线相对于卫星本体对称安装,用于收发第一频段射频信号,第三天线、第四天线相对于卫星本体对称安装,用于收发第二频段射频信号;该方法包括如下步骤:

(1)、根据参考目标的观测几何、先验高度信息h、第一频点波长,计算第一天线与第二天线相位中心在地固坐标系下的基线长度B1和基线角度α1

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