[发明专利]一种硬件测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202011073559.9 | 申请日: | 2020-10-09 |
公开(公告)号: | CN112286741A | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
发明(设计)人: | 谢夕章;王沅倩;杨凯;姜禹;龙杰强 | 申请(专利权)人: | 湖南中联重科智能技术有限公司;中联重科股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 肖冰滨;王晓晓 |
地址: | 410205 湖南省长沙市高新开*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硬件 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种硬件测试方法,其特征在于,所述方法包括:
将每一个测试操作进行封装,生成对应的测试命令;
基于对所述硬件的测试项,构建所述测试项的测试命令集合,其中所述测试命令集合包括一个或者多个测试命令;
调取所述测试命令集合,对所述硬件进行测试。
2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,基于所述硬件的属性,对所述测试命令集合动态配置。
3.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述基于对所述硬件的测试项,构建所述测试项的测试命令集合,包括:
将所述硬件的测试项分解为一个或者多个测试操作;
根据所述一个或者多个测试操作,查找对应的一个或者多个测试命令;
将所述一个或者多个测试命令组合,构建所述测试项的测试命令集合。
4.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述调取所述测试命令集合,对所述硬件进行测试,包括:
根据所述硬件的测试项,调取相应的测试命令集合;
对所述测试命令集合进行拆解,得到所述测试命令集合中的一个或者多个测试命令;
顺序执行所述一个或者多个测试命令,对所述硬件进行相应的测试操作。
5.根据权利要求4所述的测试方法,其特征在于,所述顺序执行所述一个或者多个测试命令,对所述硬件进行相应的测试操作,包括:
根据所述一个或者多个测试命令的执行顺序,调取相应的测试命令;
对所述测试命令进行解析,得到所述测试命令的测试参数;
根据所述测试命令的测试参数,对所述硬件输出测试信号值,并得到输出结果;
若输出结果为输出成功,获取所述硬件的实际采集信号值,并与所述测试信号值进行比较,得到比较结果;
若输出结果为输出失败,则返回输出失败的故障代码。
6.根据权利要求5所述的测试方法,其特征在于,所述方法还包括:
若比较结果为所述测试信号值与所述实际采集信号值比对满足预设要求,则顺序执行下一个测试命令;否则,返回测试失败的故障代码。
7.根据权利要求5或6所述的测试方法,其特征在于,对所述测试失败的故障代码进行分析,根据分析结果,对所述测试命令集动态配置。
8.一种硬件测试装置,其特征在于,所述装置包括:
封装单元,用于将每一个测试操作进行封装,生成对应的测试命令;
构建单元,用于基于对所述硬件的测试项,构建所述测试项的测试命令集合,其中所述测试命令集合包括一个或者多个测试命令;
测试单元,用于调取所述测试命令集合,对所述硬件进行测试。
9.根据权利要求8所述的测试装置,其特征在于,所述构建单元还用于,基于所述硬件的属性,对所述测试命令集合动态配置。
10.根据权利要求8所述的测试装置,其特征在于,所述构建单元采用如下方式基于对所述硬件的测试项,构建所述测试项的测试命令集合:
将所述硬件的测试项分解为一个或者多个测试操作;
根据所述一个或者多个测试操作,查找对应的一个或者多个测试命令;
将所述一个或者多个测试命令组合,构建所述测试项的测试命令集合。
11.根据权利要求8所述的测试装置,其特征在于,所述测试单元采用如下方式调取所述测试命令集合,对所述硬件进行测试:
根据所述硬件的测试项,调取相应的测试命令集合;
对所述测试命令集合进行拆解,得到所述测试命令集合中的一个或者多个测试命令;
顺序执行所述一个或者多个测试命令,对所述硬件进行相应的测试操作。
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