[发明专利]用于成型机的测量装置

说明书

本发明涉及一种用于成型机的测量装置，其包括：测量膜，其能够通过力作用而变形；测量仪，其用于对测量膜的变形进行测量技术的检测同时输出测量信号；和分析评估装置，其与测量仪连接；分析评估装置构造用于在第一校准(k₁)的框架中将来自于测量膜的由来自第一力值范围的力引起的变形的测量信号(7)转换为第一输出信号(8)，第一输出信号(8)处于先前定义的值范围内，分析评估装置(3)构造用于在至少一个第二校准(k₂、...、k_n)的框架中将来自于测量膜(1)的由来自不同于第一力值范围的第二力值范围的力引起的变形的测量信号(7)转换为第二输出信号(8)，其中，第二输出信号(8)处于先前定义的值范围内。

技术领域

本发明涉及一种根据权利要求1的前序部分的特征的用于成型机的测量装置，以及一种具有根据权利要求1的前序部分的特征的测量装置的成型机，以及一种用于提供根据权利要求1的前序部分的特征的测量装置的校准的方法，以及一种用于执行这种方法的各个步骤的计算机程序产品。

背景技术

众所周知，成型机配备有测量装置，该测量装置包括测量膜、用于检测测量膜的变形的测量仪以及与该测量仪连接的经校准的分析评估装置。

在此，针对特定的力值范围开发、设计和校准测量装置。如果该力范围由于不同的负载和/或机器设计而变化，则必须针对每个力值范围或每个机器设计开发、设计和校准自己的测量装置。

这可能导致，必须为成型机设计不同的测量系列，以便能够以不同的注射力运行注射机组。

不利的是，在此必须为每个成型机设计一个自己的测量装置。这导致制造商必须准备好大量不同的测量膜、测量仪和分析评估装置。

发明内容

因此，本发明的目的是避免上述的缺点并提供一种与现有技术相比统一的且因此成本更低廉的解决方案。

这通过具有权利要求1的特征的测量装置来实现。因此，根据本发明设置为，所述测量装置包括：

——测量膜，所述测量膜能够通过力作用而变形，

——测量仪，该测量仪用于对测量膜的变形进行测量技术的检测同时输出测量信号，以及

——分析评估装置，该分析评估装置与测量仪连接，

——所述分析评估装置构造用于在第一校准的框架中将来自于测量膜的由来自第一力值范围的力引起的变形的测量信号转换为第一输出信号，其中，该第一输出信号处于先前定义的值范围内，所述测量装置的分析评估装置构造用于在至少一个第二校准的框架中将来自于测量膜的由来自不同于第一力值范围的第二力值范围的力引起的变形的测量信号转换为第二输出信号，其中，第二输出信号处于所述先前定义的值范围内。

本发明的优选实施例在从属权利要求中提出。

输出值范围是任意的。在此可能有利的是，分析评估单元的校准构造用于将力值范围的下限映射到先前定义的输出值范围的下限，并且将力值范围的上限映射到先前定义的输出值范围的上限，并且先前定义的输出值范围完全由力值范围的输出值覆盖。在此已经证明特别有利的是，将输出值范围的下限设置为0。

可以规定，分析评估单元包括放大器，该放大器构造用于以不同的放大系数来放大信号。这尤其是用于可以将不同强度的测量信号映射到统一的输出值范围上。

根据一个优选的实施例，设置可以在至少两个校准之间切换的分析评估单元。

可以规定，分析评估装置构造用于在至少两个校准之间切换时，改变放大器的放大系数。在此，通过改变放大系数可以实现，能够将不同的力值范围映射到统一的输出值范围上。

特别优选的是，分析评估单元构造用于通过成型机的中央机器控制器的信号来控制在至少两个校准之间的切换。