[发明专利]一种新型电容式薄膜触控开关测试用下压结构

权利要求书

1.一种新型电容式薄膜触控开关测试用下压结构，其特征在于，包括：

检测器；

第一电机，所述第一电机固定安装在检测器的顶部；

第一皮带轮，所述第一皮带轮固定安装在第一电机的输出轴上；

块体，所述块体固定安装在检测器的顶部；

两个支撑块，两个支撑块均固定安装在块体的一侧；

转动杆，所述转动杆转动安装在两个支撑块上；

第二皮带轮，所述第二皮带轮固定安装在转动杆上；

拉带，所述拉带套设在第一皮带轮和第二皮带轮上；

齿轮，所述齿轮固定套设在转动杆上，所述齿轮的一侧延伸至凹槽内；

凹槽，所述凹槽开设在块体的一侧；

第一定位杆，所述第一定位杆固定安装在凹槽内；

滑块，所述滑块滑动套设在第一定位杆上；

滑条，所述滑条固定安装在滑块的一侧，所述滑条的顶端延伸至凹槽外；

多个齿槽，多个齿槽均开设在滑条上，所述齿轮与对应的齿槽啮合；

连接条，所述连接条固定安装在滑块的一侧；

安装板，所述安装板固定安装在连接条的一侧；

安装口，所述安装口开设在安装板上；

检测条，所述检测条固定安装在安装口内，所述检测条的顶部延伸至安装口外；

多个孔洞，多个孔洞均开设在检测条上；

多个按压杆，多个按压杆分别滑动安装在对应的孔洞内，所述按压杆的顶端延伸至孔洞外；

定位感应台，所述定位感应台固定安装在检测器的顶部。

2.根据权利要求1所述的新型电容式薄膜触控开关测试用下压结构，其特征在于，两个支撑块上均开设有转动通孔，所述转动杆与两个转动通孔转动连接。

3.根据权利要求1所述的新型电容式薄膜触控开关测试用下压结构，其特征在于，所述凹槽的一侧内壁上开设有滑口，所述齿轮与滑口滑动连接。

4.根据权利要求1所述的新型电容式薄膜触控开关测试用下压结构，其特征在于，所述凹槽的顶部内壁上开设有第一滑孔，所述滑条与第一滑孔滑动连接。

5.根据权利要求1所述的新型电容式薄膜触控开关测试用下压结构，其特征在于，所述检测器的顶部固定安装有两个第二定位杆，所述安装板与两个第二定位杆滑动连接。

6.根据权利要求1所述的新型电容式薄膜触控开关测试用下压结构，其特征在于，所述孔洞的两侧内壁上均开设有限位槽，所述限位槽内固定安装有限位杆，所述限位杆上滑动套设有限位块，所述限位块的一侧与按压杆固定连接，所述限位杆上滑动套设有第一弹簧，所述第一弹簧的顶端与限位块的底部相接触，所述第一弹簧的底端与限位槽的底部内壁相接触。

7.根据权利要求1所述的新型电容式薄膜触控开关测试用下压结构，其特征在于，所述安装板的顶部固定安装有两个竖块，所述竖块的一侧开设有滑槽，所述滑槽内固定安装有滑杆，两个滑杆上滑动套设有同一个压条，所述滑杆上滑动套设有第二弹簧，所述第二弹簧的顶端与压条的底部相接触，所述第二弹簧的底端与滑槽的底部内壁相接触，两个竖块的顶部固定安装有同一个顶条，所述顶条的底部固定安装有两个液压推杆，两个液压推杆的输出杆均与压条的顶部固定连接。

8.根据权利要求7所述的新型电容式薄膜触控开关测试用下压结构，其特征在于，所述压条上开设有两个第二滑孔，两个滑杆分别与两个第二滑孔滑动连接。