[发明专利]一种适用于大尺寸太阳电池的电性能测试方法

说明书

本发明提供了一种适用于大尺寸太阳电池的电性能测试方法，包括：准备待测的电池片：待测的电池片为由N片切片电池串联形成的大尺寸电池片，待测的电池片的背面具有M条铝带，铝带上设置有金属电极,N,M均为大于1的正整数；准备探针排：移除探针排上的所有探针，安装电压探针,各电压探针分布于各切片电池的中部,电压探针与电池片背面的铝带接触,每一条铝带上仅有一根电压探针且金属探针在电池片的N个切片电池上均匀地分布；将电流探针安装在电压探针的两侧；采用IV测试仪的标定模式，将测试用电池片背面朝上放入测试仪，进行动静态稳定性测试；将所述测试用电池片取出，放入待测的电池片，进行批量测试。本发明可提高测试的准确性。

技术领域

本发明属于晶体硅太阳电池性能测试技术领域，具体涉及一种适用于大尺寸太阳电池的电性能测试方法，尤其适用于210mm 切片电池的电性能测试。

背景技术

市面上常见的IV测试仪，由模拟光源、电子负载、温度检测系统、数据采集系统、显示设备、存储系统等构成。IV测试用来表征太阳能电池在一定光照条件下，输出电压与电流的关系，其核心原理为光生伏特效应。当特定频率的光辐照到一块非均匀半导体上时，由于内建电场的作用，载流子重新分布导致半导体材料内部产生电动势,如果构成回路就会产生电流，这种电流叫做光生电流，这种内建电场引起的光电效应就是光生伏特效应。在对大尺寸太阳电池进行电性能测试时，用太阳模拟器提供光源，探针收集电流，探针的疏密程度与排布方式会对太阳能电池电性能的测试结果造成显著影响。

探针分为电流针与电压针,一般产线的IV测试仪为提高测试效率，采用双探针排结构，通过每根探针排的电流值约为1-2A，而在线连接处产生最大压降。通常采用四线法进行测试，可以将一对电流引线直接接到被测电阻两端，一对测量电压的引线靠近被测电阻，由于测量电压回路的阻抗很高，流过电压引线的电流非常小，可以有效消除引线电阻带来的测试误差。但是现有测试仪器在测量210mm电池电性能时，因设备电流线、电压线的位置和接口数有限制，无法采用真正的四线法进行测试而采用两线法测量电阻，导致电压针无法正确测量一根探针排上的电压值，测量结果不准确，在低阻值的测量中引线电阻会带来测量误差，尤其填充因子偏低。

发明内容

本发明的目的是针对上述问题，提供一种太阳电池电性能测试方法，可以提升测量所得填充因子进而提升测量准确性，提高测试效率。

为达到上述目的，本发明采用了下列技术方案：一种适用于大尺寸太阳电池的电性能测试方法，具体包括：

S0：准备待测的电池片：待测的电池片为由N片切片电池串联形成的大尺寸电池片，待测的电池片的背面具有M条铝带，铝带上设置有金属电极,N,M均为大于1的正整数；

S1：准备探针排：移除探针排上的所有探针，安装电压探针, 各电压探针分布于各切片电池的中部,电压探针与电池片背面的铝带接触,每一条铝带上仅有一根电压探针且金属探针在电池片的N个切片电池上均匀地分布；

S2：将电流探针安装在电压探针的两侧；

S3.采用IV测试仪的标定模式，将测试用电池片背面朝上放入测试仪，进行动静态稳定性测试；

S4.将所述测试用电池片取出，放入待测的电池片，进行批量测试。

进一步的，所述待测的电池片为由3片切片电池串联形成的 210mm电池片。

进一步地，所述金属电极为铝电极、银电极或银铝合金电极。

进一步地，所述电压探针位于电池片背面的铝带上，和/或，铝带与金属电极搭接处，和/或，金属电极上。

进一步地，在步骤S2中，所述电压探针的两侧各安装有一个电流探针。

进一步地，太阳电池片为p型衬底的晶体硅太阳电池，和/ 或，n型衬底的晶体硅太阳电池。