[发明专利]显示面板及其显示装置

说明书

本申请公开了一种显示面板及其显示装置，该显示面板包括第一基板、第二基板和对组标记；第二基板与第一基板对盒设置；对组标记包括第一对组单元、第二对组单元和对组重叠单元；第一对组单元设置在第一基板上；第二对组单元设置在第二基板上；第一对组单元与第二对组单元对组设置；对组重叠单元沿第一对组单元边上设置或者沿第二对组单元的边上设置；对组重叠单元包括若干段不同宽度的重叠子单元，实现高精度对显示面板对组标记。本申请通过设置具有多个重叠子单元的对组重叠单元，以及调整各个重叠子单元的重叠量，提高了显示面板对组标记精度，无需在Chip四个角落均要放置两种标记，节省了Chip四个角落的设计空间，扩大了Chip四角的走线空间。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，更具体地说，涉及一种显示面板及其显示装置。

背景技术

在显示面板设计中，Chip Assembly Vernier Mark(对组精度标记面板对组精度标记)的作用是用来人工确定面板上下基板对组精度。Vernier mark(对组精度标记)的设计图案并无固定，其功能实现主要是通过阵列基板(Aarry基板)的金属和彩膜基板(CF基板)的BM(Black Matrix，黑色矩阵)进行对位。Chip Corner Cross Mark(面板四周十字标记)可用于显示面板偏光片贴附、磨边、镭射切割和Module bonding(模组绑定)等制程的对位；在Chip四个角落均要放置这两种Mark(标记)且要保证Mark(标记)可读取。

传统的设计中，Chip Assembly Vernier Mark和Chip Corner Cross Mark是相互独立的，随着显示面板的窄边框设计，Chip的WOA(Wire On Array，阵列基板走线)布线紧密，四角的走线空间越来越不足。

在实现过程中，发明人发现传统技术中至少存在如下问题：传统显示面板的对组标记设计中，在Chip四个角落均要放置这两种Mark(标记)，Chip四角的走线存在空间不足，且对组标记精度低。

发明内容

基于此，有必要针对传统显示面板的对组标记设计中，在Chip四个角落均要放置这两种Mark(标记)，Chip四角的走线存在空间不足，且对组标记精度低的问题，提供一种显示面板及其显示装置。

为了实现上述目的，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：

第一基板；

第二基板，第二基板与第一基板对盒设置；

对组标记，对组标记包括第一对组单元、第二对组单元和对组重叠单元；第一对组单元设置在第一基板上；第二对组单元设置在第二基板上；第一对组单元与第二对组单元对组设置；对组重叠单元沿第一对组单元边上设置或者沿第二对组单元的边上设置；对组重叠单元包括若干段不同宽度的重叠子单元。

在其中一个实施例中，第一对组单元为金属单元。

在其中一个实施例中，第二基板上设置有黑色矩阵；第二对组单元为镂空单元；镂空单元为在黑色矩阵上镂空得到。

在其中一个实施例中，第一对组单元为十字形结构；第二对组单元对十字形结构。

在其中一个实施例中，第一对组单元由相互垂直交叉的两个第一长条构成；

第二对组单元由相互垂直交叉的两个第二长条构成。

在其中一个实施例中，对组重叠单元沿第一对组单元边上设置时，对组重叠单元位于第一对组单元外壁上；重叠子单元为金属长条单元。

在其中一个实施例中，对组重叠单元包括第一重叠子单元、第二重叠子单元、第三重叠子单元和第四重叠子单元；第一重叠子单元、第二重叠子单元、第三重叠子单元和第四重叠子单元的宽度依次递增；

第一重叠子单元、第二重叠子单元、第三重叠子单元和第四重叠子单元依次间隔设置第一长条的外壁上。