[发明专利]异质集成工作量证明运算芯片的数据动态重构电路及方法在审

专利信息
申请号: 202011080631.0 申请日: 2020-10-10
公开(公告)号: CN112214448A 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 汪福全;刘明;蔡凯 申请(专利权)人: 中科声龙科技发展(北京)有限公司
主分类号: G06F15/173 分类号: G06F15/173;G06F15/78
代理公司: 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 代理人: 韩登营
地址: 100190 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 集成 工作量 证明 运算 芯片 数据 动态 电路 方法
【权利要求书】:

1.一种异质集成工作量证明运算芯片的数据动态重构电路,其特征在于,所述电路包括:依次连接的计算层、地址动态重构层、交叉开关和存储层;其中,所述计算层由多个计算单元构成,所述存储层由多个存储单元构成;

所述计算层用于基于计算任务调用所述存储层所存储的数据,并进行相应计算;

所述地址动态重构层用于当所述工作量证明运算芯片中的一个或多个存储单元失效时,根据所述芯片中有效的存储单元数量和所述芯片中所存储的数据总量进行数据地址重构;

所述交叉开关用于使各个计算单元和各个存储单元互连;

所述存储层用于存储所述工作量证明运算芯片中的数据。

2.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述根据所述芯片中有效的存储单元数量和所述芯片中所存储的数据总量进行数据地址重构,包括:

按下式将数据x存放在第N个有效的存储单元中:

N=x%(N-n)

按下式确定数据x在第N个有效的存储单元中的位置L:

其中,x为工作量证明运算芯片中第x个数据,%为取余运算,N为存储层中存储单元的总数量,n为存储层中失效的存储单元的数量,[]为取整函数。

3.一种异质集成工作量证明运算芯片的数据动态重构方法,其特征在于,所述方法包括:

当工作量证明运算芯片中的一个或多个存储单元失效时,根据所述芯片中有效的存储单元数量和所述芯片中所存储的数据总量进行数据地址重构;

待完成数据地址重构时,关闭失效的存储单元并修改路由表。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述芯片中有效的存储单元数量和所述芯片中所存储的数据总量进行数据地址重构,包括:

按下式确定存放在第N个有效的存储单元中的数据:

N=x%(N-n)

按下式确定存放在第N个有效的存储单元中第L行的数据:

其中,x为工作量证明运算芯片中第x个数据,%为取余运算,N为存储层中存储单元的总数量,n为存储层中失效的存储单元的数量,[]为取整函数。

5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述修改路由表,包括:

根据数据地址重构后工作量证明运算芯片数据的存储位置建立计算单元至存储单元的访问路径,使其绕过失效的存储单元。

6.一种异质集成工作量证明运算芯片的数据动态重构系统,其特征在于,所述系统包括:

数据重构模块,用于当工作量证明运算芯片的一个或多个存储单元失效时,根据所述芯片有效的存储单元数量和所述芯片所存储的数据总量进行数据地址重构;

访问路径重构模块,用于待完成数据地址重构时,关闭失效的存储单元并修改路由表。

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