[发明专利]一种巨磁阻传感器性能测试装置在审

专利信息
申请号: 202011084464.7 申请日: 2020-10-12
公开(公告)号: CN112213677A 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 徐志远;梁杰评 申请(专利权)人: 湘潭大学
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 411105 湖南省湘潭*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁阻 传感器 性能 测试 装置
【说明书】:

发明公开了一种巨磁阻传感器性能测试装置,其特征包括底板、载物台、中心调节器、方形线圈和方形线圈位置调节器,所述底板上安装齿条,载物台与齿条配合,能够沿齿条横向调节;所述载物台设夹紧机构,可夹紧巨磁阻传感器;所述中心调节器与载物台连接可横向调节载物台的位置;所述方形线圈安装在方形线圈位置调节器上;所述方形线圈位置调节器与底板齿条配合,通过手柄根据实际测试情况进行调节方形线圈之间的间距,从而达到改变磁场的效果,提升该巨磁阻传感器性能测试装置的实际使用范围。本发明实现方形线圈间的可调节,提供更符合实际条件的磁场,提高测试的准确性,还具有结构简单、操作便捷的优点。

技术领域

本发明涉及巨磁阻传感器测试技术领域,具体为一种巨磁阻传感器性能测试装置。

背景技术

巨磁阻又称特大磁电阻,即GMR(GiantMagnetoResistance),比AMR技术磁头灵敏度高2倍以上,GMR磁头是由4层导电材料和磁性材料薄膜构成的:一个传感层、一个非导电中介层、一个磁性的栓层和一个交换层。简单来说,当巨磁阻周围存在磁场时,巨磁阻的电阻会急剧下降,巨磁阻传感器在生产制造过程中需要对其进行抗干扰测试。

市场上的巨磁阻传感器性能测试装置不便于根据实际情况进行调节磁场,测试的范围受到一定的限制,同时不具有产生高均匀性磁场的特性,而磁场的均匀性对测试结果有影响,为此,我们提出这样一种巨磁阻传感器性能测试装置。

发明内容

本发明的目的在于提供一种巨磁阻传感器性能测试装置,以解决上述背景技术中提出的巨磁阻传感器性能测试装置不便于根据实际情况进行调节磁场,测试的范围受到一定的限制,同时不具有产生高均匀性磁场的特性,而磁场的均匀性对测试结果有影响的问题。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种巨磁阻传感器性能测试装置,包括底板、载物台、方形线圈、中心调节器和方形线圈位置调节器,所述底板的中间设置有U型槽,且U型槽的上端两侧开有燕尾槽,所述U型槽通过螺钉安装齿条,与底板组成基座,所述载物台的下端与调节螺杆连接,与中心调节器组成活动构件,所述载物台的上端中间设置U型槽,两侧开设螺纹孔,且安装有巨磁阻传感器夹紧机构,所述夹紧机构通过调节螺杆安置于载物台的两侧,调节螺杆前端套接活动连接件,防滑层及夹块安装在活动连接件上,所述方形线圈位置调节器的上端开U型槽,两侧有螺纹孔,下端设置燕尾型,外侧设置连接孔,与手柄旋钮配合构成位置调节活动机构,所述手柄旋钮的前端连接有齿轮,且齿轮与底板的齿条配合啮合形成活动调节结构,所述方形线圈通过螺钉安装在方形线圈位置调节器上。

优选的,所述载物台两侧设置配合螺纹孔与夹紧机构连接,下端调节螺杆连接中心调节器形成位置可调节的活动结构。

优选的,所述方形线圈与方形线圈位置调节器呈螺钉连接,且方形线圈贴近于方形线圈位置调节器表面,并且方形线圈位置调节器通过手柄旋钮使齿轮齿条啮合构成活动结构。

优选的,所述调节螺杆贯穿于固定侧板的内侧,且夹块通过活动连接套与固定侧板之间构成活动结构。

优选的,所述防滑层与夹块呈平行状分布,且防滑层与夹块之间为固定连接。

与现有技术相比,本发明的有益效果是:该巨磁阻传感器性能测试装置设置有调节螺杆,螺杆布置于调节器中心,通过螺杆与中心调节器连接,便于载物台的位置调节,方形线圈封装设置可以起到很好的防尘效果,避免出现方形线圈外表面附着灰尘,影响磁场对巨磁阻传感器性能测试的结果;

方形线圈位置调节器等距分布底板中间,方形线圈与其连接,可以根据实际测试情况进行调节方形线圈的间距,从而达到改变磁场的效果,提升该巨磁阻传感器性能测试装置的实际使用范围;

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