[发明专利]一种半导体器件故障检测装置在审

专利信息
申请号: 202011086458.5 申请日: 2020-10-12
公开(公告)号: CN112213608A 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 陶金 申请(专利权)人: 陶金
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R31/52
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市宝安区航城街*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体器件 故障 检测 装置
【说明书】:

发明公布了一种半导体器件故障检测装置,包括底座,底座的顶部连接有壳体,壳体的顶部右侧嵌合安装有故障指示灯,壳体的内壁连接有绝缘层,壳体的内腔上部横向设有线芯,线芯的左右两端分别连接有电接头和工作指示灯,线芯的外部套设有保护套,保护套内安装有感应线圈,壳体的前侧壁下部嵌合安装有收纳盒,收纳盒前端开口设置,收纳盒的左右两侧壁均贯穿有活动管,两组活动管相靠近的一端对称连接有金属板,活动管内贯穿有导线;本发明结构设计合理,操作简单,降低了检测难度,提高了装置的适用性,易于掌握,提高了检测效率,延长了装置的使用寿命。

技术领域

本发明涉及半导体相关装置技术领域,尤其涉及一种半导体器件故障检测装置。

背景技术

半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用,如二极管就是采用半导体制作的器件。

无论从科技或是经济发展的角度来看,半导体的重要性都是非常巨大的。大部分的电子产品,如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等,硅是各种半导体材料应用中最具有影响力的一种。

半导体器件在使用过程中常常会发生短路故障。短路故障是指因电压过高或导通电流过大,使PN结击穿或烧成一团,造成二极管正、负电极双向导通,正、反电阻均为0欧米茄。

然而,半导体器件在进行短路检测时一般需要通过专业的检测设备进行检测,其花费成本较高,检测效率相对较低,为此,我们提出了一种半导体器件故障检测装置。

发明内容

本发明的目的在于提供一种半导体器件故障检测装置,以克服现有技术中存在的技术问题。

为实现上述技术目的,达到上述技术效果,本发明提供如下技术方案:

一种半导体器件故障检测装置,包括底座,所述底座的顶部连接有壳体,所述壳体的顶部右侧嵌合安装有故障指示灯,所述壳体的内壁连接有绝缘层,所述壳体的内腔上部横向设有线芯,所述线芯的左右两端分别连接有电接头和工作指示灯,所述线芯的外部套设有保护套,所述保护套内安装有感应线圈,所述壳体的前侧壁下部嵌合安装有收纳盒,所述收纳盒前端开口设置,所述收纳盒的左右两侧壁均贯穿有活动管,两组所述活动管相靠近的一端对称连接有金属板,所述活动管内贯穿有导线,左侧所述导线两端分别连接感应线圈和金属板,右侧所述导线两端分别连接故障指示灯和金属板,所述故障指示灯的另一端与感应线圈电连接。

优选的,一种半导体器件故障检测装置中,所述收纳盒的左右两侧壁对称开设有滑孔,所述滑孔内连接有密封圈,所述密封圈内壁贴合活动管外壁。

优选的,一种半导体器件故障检测装置中,所述活动管伸出收纳盒一端的底部连接有限位挡块,所述限位挡块与收纳盒外壁之间连接有拉伸弹簧。

优选的,一种半导体器件故障检测装置中,所述壳体的内腔右侧壁连接有支撑管,所述支撑管套于保护管外部,所述支撑管外壁套设有高阻圈,所述高阻圈端部与感应线圈电连接。

优选的,一种半导体器件故障检测装置中,所述壳体的顶部连接有提手,所述壳体的各侧面连接处设有倒角。

优选的,一种半导体器件故障检测装置中,所述底座的底部四角连接有橡胶吸盘。

与现有技术相比,本发明的有益效果是:

1、本发明结构设计合理,通过将半导体器件放置于收纳盒内检测,操作简单,降低了检测难度;

2、本发明中两组金属板之间的间距可调,便于不同尺寸的半导体器件检测使用,提高了装置的适用性;

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