[发明专利]一种容积连续变化的吸枪头及漏点检测系统在审

专利信息
申请号: 202011089029.3 申请日: 2020-10-13
公开(公告)号: CN112179577A 公开(公告)日: 2021-01-05
发明(设计)人: 唐宁;谢远来;胡纯栋;陶玲;汪金新;张进新;郎嘉琪;王铭翔;刘晓雪 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院;中国科学技术大学
主分类号: G01M3/20 分类号: G01M3/20
代理公司: 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 代理人: 张祥
地址: 230031 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 容积 连续 变化 吸枪头 检测 系统
【说明书】:

本发明提供了一种容积连续变化的吸枪头,包括包裹待检测件的密封爪,所述密封爪包括多个沿周向均匀围绕设置的圆柱状骨架,所述骨架一端与一缩放环铰接连接,骨架的另一端向密封爪内部弯曲,密封爪上套设有限制密封爪半径上下限的限位盘,所述限位盘的中心设置有出气口,密封爪的外侧设置有密封膜,所述密封膜与出气口的边缘密封连接。本发明还提供了使用所述的吸枪头进行漏点检测的系统,所述密封爪包裹待检测件,出气口通过出气管连通氦质谱仪,待检测件连接有高压氦气源,出气管上设置标准漏孔。本发明的优点在于:通过密封爪包裹待检测件,不限于规则形状,适应性强,密封爪的端部与缩放环连接,能够连续改变密封爪的容积。

技术领域

本发明涉及真空检漏技术领域,尤其涉及一种容积连续变化的吸枪头及漏点检测系统。

背景技术

核聚变装置对于真空的密封性能要求很高,目前,用于检测真空系统是否有泄漏的仪器广泛采用吸腔模式的氦质谱检漏仪。但是,吸腔式氦质谱检漏仪在使用过程中,受到氦质谱检漏仪前置装置安装位置以及其吸枪头结构的限制,氦质谱检漏仪只能获取喷入机组真空系统氦气的极小部分,吸枪的结构都是固定的,针对不同焊缝大小还需要更换不同规格的吸枪头,针对距离非常近的焊缝,由于氦气的扩散可能会相互影响,造成最终结果测量不准确。针对这些问题,公开号为CN207964195U的实用新型专利公开了一种用于检测冰箱管焊口的氦质谱仪吸腔装置,通过上盖板和下盖板包裹冰箱管,来进行缝隙检测;公开号为CN202305162U的实用新型专利公开一种氦质谱检漏仪专用吸枪,其通过设置吸盘来对焊缝进行检测,这些方法均能够解决吸枪头尺寸对焊缝检测的影响,但是这些技术仅适用于特定规则形状的焊缝检测,普适性不强。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种能够包裹检测区域并且容积能够连续变化的吸枪头及使用该吸枪头进行漏点检测的系统。

本发明是通过以下技术方案解决上述技术问题的:一种容积连续变化的吸枪头,包括包裹待检测件的密封爪,所述密封爪包括多个沿周向均匀围绕设置的圆柱状骨架,所述骨架一端与一缩放环铰接连接,骨架的另一端向密封爪内部弯曲,密封爪上套设有限制密封爪半径上下限的限位盘,所述限位盘的中心设置有处于密封爪内部的出气口,密封爪的外侧设置有覆盖在密封爪的自由端到限位盘之间的密封膜,所述密封膜与出气口的边缘密封连接。

优选的,所述限位盘的表面相对中心的出气口发散状的设置有滑动槽,所述滑动槽沿径向设置,骨架能够在滑动槽内滑动改变位置。

优选的,所述骨架包括与缩放环连接的固定段和与固定段连接的封口段,封口段与固定段铰接配合,封口段能够相对固定段沿缩放环的径向转动改变角度。

优选的,所述密封膜与限位盘远离缩放环的一侧固定连接,密封膜穿过骨架并与骨架密封连接,骨架沿滑动槽滑动时,密封膜跟随骨架进行滑动;所述密封膜为由超弹性材料制作的薄膜。

优选的,所述缩放环为环形剪叉式伸缩结构。

优选的,所述缩放环朝向密封爪的一端与骨架的固定段铰接配合,所述固定段能够相对缩放环沿径向自由转动。

优选的,所述密封爪外侧还设置有包覆缩放环和密封爪的部分固定段的支撑架,所述支撑架的底板朝向缩放环设置,所述底板上穿设有与出气口连通的出气管;所述支撑架与密封爪配合的一端形成所述限位盘;所述出气管上套设有被限制在出气口与底板之间的弹簧。。

优选的,所述支撑架的底板上还穿设有两个与缩放环朝向支撑架底板的一端固定连接的调整杆,两个所述调整杆相对于底板的中心对称;所述调整杆能够在底板上沿径向改变位置。

优选的,所述底板上具有沿沿径向设置并指向圆心的调整槽,所述调整杆能够沿调整槽的长度方向改变位置,两个所述调整杆固定于两个共线的调整槽内;两个调整杆上设置有同轴且螺纹方向相反的螺纹孔,两个螺纹孔上穿设有同一螺杆,所述螺杆两端的外螺纹螺旋方向相反。

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