[发明专利]光电耦合器高低温测试系统

说明书

本发明公开了一种光电耦合器高低温测试系统，包括高低温测试板、高低温箱、控制单元和光电耦合器测试仪，所述高低温测试板包括译码电路、被测件单元和信号布线；每一被测件单元包括测试插座和固体继电器；各被测件单元的对应输出端通过信号布线并联后分别通过一条信号线缆与光电耦合器测试仪的测试端电连接。本发明中，能够在高低温测试板内实现待测光电耦合器的引脚切换，大大降低了引出高低温箱的线缆数量，显著缩短了测试时的线缆连接时间并提高了操作便利性，避免了接触不良、断路等问题，能长期稳定工作；另外，信号线缆采用交流传输能力良好的同轴电缆，对连接线进行阻抗匹配设计后，能够对光电耦合器的交流参数进行测试。

技术领域

本发明涉及光电耦合器测试领域，特别涉及一种光电耦合器高低温测试系统。

背景技术

对于高可靠性等级的光电耦合器，要求在器件处于低温(如-55℃)或高温下(如125℃)时进行参数测试，且要预先恒温足够时间(如30分钟)，为此需要制作能同时安装若干被测件(即待测光电耦合器)的测试板，将其放入高低温箱后，通过将各器件的引脚(本文中的引脚均指代对参数测试有用的引脚，空引脚等无用引脚不含在内)引出箱外并接入光电耦合器测试仪进行参数测试。由于光电耦合器测试仪在同一时刻只能接入一只被测件的引脚，还需要将各被测件的引脚轮流切换接入光电耦合器测试仪。

如图1所示，为现有的测试系统的原理框图；每只被测件的每个引脚都需要引出高低温箱，以每只被测件有5个引脚为例，设在箱内同时测试N个器件，则需要将所有引脚(总数为5×N)采用集束的线缆并行引出高低温箱。如图2所示，为现有技术中典型的高低温测试板的示意图，为引出各引脚信号所布置的线缆连接器占据了大块板面，共需要引出640路线缆。由于引出的线缆数量多，采用较粗的同轴电缆后整体上过于粗重，从而只能采用较细但仅可传输直流信号的小截面单股导线，导致只能测试被测件的直流参数。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供了一种引出的线缆数量较少，且可测试交流参数的光电耦合器高低温测试系统。

本发明的技术方案如下：

一种光电耦合器高低温测试系统，用于对待测光电耦合器进行高低温测试，包括高低温测试板、高低温箱、控制单元和光电耦合器测试仪，所述高低温测试板设置在高低温箱内，所述高低温测试板通过n条信号线缆与光电耦合器测试仪电连接，n为待测光电耦合器的有效引脚数量；所述高低温测试板包括译码电路、至少一个被测件单元和n条信号布线，所述被测件单元设有控制端和n个输出端，所述译码电路的各输入端分别通过控制线缆与控制单元电连接，各输出端分别与各被测件单元的控制端电连接；所述控制单元用于输出地址码给译码电路，使译码电路输出控制信号并分别送给各被测件单元的控制端；各被测件单元对应的输出端均连接同一信号布线，使被测件单元的各输出端与信号布线一一对应；n条信号线缆的一端与n条信号布线一一对应电连接，另一端对应与光电耦合器测试仪的测试端电连接；

每一被测件单元包括一个测试插座和n个固体继电器，所述测试插座用于插接待测光电耦合器，其有效引脚与待测光电耦合器的有效引脚一一对应，n个所述固体继电器与测试插座的有效引脚一一对应，每一所述固体继电器的输入端分别与测试插座对应的有效引脚电连接，n个所述固体继电器的输出端作为该被测件单元的n个输出端与对应的信号布线电连接；n个所述固体继电器的通断均由该被测件单元控制端接收的控制信号控制。

进一步的，所述信号线缆为同轴电缆，所述高低温测试板设有n个同轴电缆连接器，n条所述信号布线与n个同轴电缆连接器一一对应电连接，n条同轴电缆的一端分别连接在n个同轴电缆连接器上；所述固体继电器的输入端与测试插座的引脚之间通过第一连接线连接，所述固体继电器的输出端通过第二连接线与对应的信号布线电连接；所述第一连接线、第二连接线和信号布线的阻抗与同轴电缆的阻抗相匹配。

进一步的，所述控制线缆为高温线。