[发明专利]一种热室箱室设备α污染去污方法

说明书

本发明涉及核设施退役处理技术领域，具体公开了一种热室箱室设备α污染去污方法，采用可剥离膜及干冰进行去污，包括以下步骤：步骤一：估算可剥离膜及干冰消耗量；步骤二：配制可剥离膜、制备干冰；步骤三：喷涂可剥离膜；步骤四：喷射干冰；步骤五：收集处理尾气、废弃物。本发明方法适用于α污染水平高且空间狭小的箱室设备内部去污处理，能够有效减少箱室设备退役过程拆除的固体放射性废物量。

技术领域

本发明属于核设施退役处理技术领域，具体涉及一种放射性热室箱室设备α污染去污方法。

背景技术

核设施在内设计并使用有大量的取样柜、工作箱、取样箱等热室箱室设备，用于放射性物质操作，经过多年的运行，部分设备内部受α污染。这类箱室设备在运行和退役过程中将需要进行去污操作，一套良好的去污工艺能够有效保证退役活动的辐射安全，但是目前箱室设备去污难度很大，主要体现在：

(1)辐射水平高，污染严重，部分遭受了严重α污染；

放射性取样柜、工作箱等箱室在运行期间，开展了高放射性水平废液的取样工作，在操作中，导致内壁受不同深度的放射性污染。以取样柜为例，其内壁α污染达到了10³Bq/cm²。

(2)设备内空间狭小，一般未设置倒空手段，去污操作受限因素多，产生的二次废液难以收集，易造成二次污染。

受限于设备内部空间狭小及其复杂结构，难以采用常规的去污手段(如化学去污等)，主要原因为箱室设备未设置倒空手段，产生的二次废液若不能及时收集，将造成严重的二次污染，不利于设备的后续拆除。

基于以上因素，亟需设计一种热室箱室设备的高效去污方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种放射性热室箱室设备α污染去污方法，实现受α污染且空间狭小的箱室设备内壁及内部构件外表面的去污处理。

本发明的技术方案如下：

一种热室箱室设备α污染去污方法，采用可剥离膜及干冰进行去污。

包括以下步骤：

步骤一：估算可剥离膜及干冰消耗量；

步骤二：配制可剥离膜、制备干冰；

步骤三：喷涂可剥离膜；

步骤四：喷射干冰；

步骤五：收集处理尾气、废弃物。

步骤一中，根据热室箱室设备尺寸估算设备内部需去污部分的表面积，进而估算可剥离膜及干冰消耗量。

步骤二中，分别根据消耗量配制可剥离膜、制备干冰，并分别暂存备用；

其中，可剥离膜的配制量和干冰的制备量均大于估算消耗量；

将热室箱室设备连接至局排系统，测量通风量，并确保通风量≥2100m³/h。

步骤二中，干冰制备具体包括以下步骤：

1)购置液态二氧化碳，灌装至液态二氧化碳杜瓦罐中待用；

2)将杜瓦罐与干冰制造机相连接，并考虑干冰使用中的损耗，设置干冰制备量为1.1～1.5倍估算的消耗量；

3)启动干冰制造机制取干冰，装入干冰贮存箱中暂存备用。

步骤三中，将可剥离膜通过喷射、涂刷等方式喷涂到设备内壁及内部构件外表面，喷涂厚度为0.8～1.0mm；

设备内保持通风，直至可剥离膜干燥。