[发明专利]用于滤光片的丝印区域粗定位方法、装置及存储介质在审
申请号: | 202011091887.1 | 申请日: | 2020-10-13 |
公开(公告)号: | CN112164058A | 公开(公告)日: | 2021-01-01 |
发明(设计)人: | 杨小冬 | 申请(专利权)人: | 东莞市瑞图新智科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/73 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 徐丽 |
地址: | 523000 广东省东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 滤光 丝印 区域 定位 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其特征在于,包括如下步骤:
采集待测滤光片的图像,得到待测图像;
对所述待测图像进行差分处理,得到差分图像;
提取所述差分图像的镜面区域;
对所述待测图像和镜面区域进行做差处理,得到丝印候选区域;
从所述丝印候选区域中筛选获得丝印目标区域。
2.如权利要求1所述的用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其特征在于,所述对所述待测图像进行差分处理,得到差分图像,具体包括如下步骤:
对所述待测图像进行大掩模均值滤波处理,得到第一处理图像;
对所述待测图像和所述第一处理图像进行相减处理,得到所述差分图像。
3.如权利要求1所述的用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其特征在于,所述提取所述差分图像的镜面区域,具体包括如下步骤:
对所述差分图像进行阈值分割处理,得到第二处理图像;
对所述第二处理图像进行形态学变换处理,得到第三处理图像;
依据预设的镜面区域尺寸参数,从所述第三处理图像中提取所述差分图像的镜面区域。
4.如权利要求3所述的用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其特征在于:所述形态学变换包括开运算变换和闭运算变换。
5.如权利要求1所述的用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其特征在于,所述对所述待测图像和镜面区域进行做差处理,得到丝印候选区域,具体包括如下步骤:
对所述待测图像和镜面区域进行做差处理,得到第一泛丝印候选区域;
对所述第一泛丝印候选区域进行填充,得到第二泛丝印候选区域;
对所述第二泛丝印候选区域进行开运算处理,以去除所述第二泛丝印候选区域的边缘干扰,得到第三泛丝印候选区域;
依据预设的丝印区域尺寸参数,从所述第三泛丝印候选区域中提取得到所述丝印候选区域。
6.如权利要求1所述的用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其特征在于,所述从所述丝印候选区域中筛选获得丝印目标区域,具体包括如下步骤:
分析所述丝印候选区域与所述镜面区域的交集,及所述丝印候选区域与所述镜面区域的相对位置,获得初步丝印目标区域;
依次判断每一所述初步丝印目标区域与所述待测图像边界的距离,依据判断结果筛选获得所述丝印目标区域。
7.如权利要求6所述的用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其特征在于,所述依次判断每一所述丝印候选区域与所述待测图像边界的距离,依据判断结果筛选获得所述丝印目标区域,具体包括如下步骤:
若当前丝印候选区域与所述待测图像边界的距离大于预设阈值,则记当前丝印候选区域为丝印目标区域;
若当前丝印候选区域与所述待测图像边界的距离小于或等于预设阈值,则舍弃当前丝印候选区域为非丝印目标区域。
8.一种用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其特征在于,包括:
获取模块,用于采集待测滤光片的图像,得到待测图像;
第一处理模块,用于对所述待测图像进行差分处理,得到差分图像;
第二处理模块,用于提取所述差分图像的镜面区域;
第三处理模块,对所述待测图像和镜面区域进行做差处理,得到丝印候选区域;
第四处理模块,从所述丝印候选区域中筛选获得丝印目标区域。
9.一种存储介质,用于存储计算机程序,其特征在于:所述程序被处理器执行时实现权利要求1~7中任一项所述的用于滤光片的丝印区域粗定位方法。
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