[发明专利]一种多面尺寸测量方法

权利要求书

1.一种多面尺寸测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S1：将装有被测产品的第一tray盘放置在上料机上，控制第一提取装置提取至少一个被测产品、并将被测产品放置于第一测试平台，控制第一测量装置对被测产品的上表面进行外形尺寸测量；

步骤S2：控制第一提取装置将上表面测量合格的被测产品放回第一tray盘上，控制第一tray盘输向第二提取装置；

步骤S3：控制第二提取装置提取被测产品、并将被测产品放置于第二测试平台，控制第二测量装置对被测产品的侧面进行外形尺寸测量；

步骤S4：控制第三提取装置将侧面测量合格的被测产品放在良品tray盘上，控制良品tray盘输向下料机。

2.如权利要求1所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，在步骤S3中：

第二提取装置提取被测产品后，先经过第三测量装置，所述第三测量装置被配置为对被测产品的下表面进行外形尺寸测量，下表面测量后再将被测产品放置在第二测试平台。

3.如权利要求2所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，在步骤S1中，第一提取装置提取被测产品后，将被测产品按顺时针旋转90°后再放置在第一测试平台上。

4.如权利要求3所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，在步骤S2中，所述第一测量装置逐个对被测产品的上表面进行外形尺寸测量，将每个被测产品的测量结果发送至控制器，控制器控制与被测产品对应的第一提取装置将上表面测量合格的被测产品放回第一tray盘上、将上表面测量不合格的被测产品放至第二tray盘上。

5.如权利要求4所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，在步骤S3中，控制所述第二测试平台带动被测产品进行沿同一顺时针或者逆时针方向的多次90°旋转，对于被测产品的每个侧面，通过第二测量装置对其进行外形尺寸测量。

6.如权利要求5所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，在步骤S4中，所述第二测量装置将被测产品的侧面测量结果发送至控制器，控制器控制与被测产品对应的第三提取装置将侧面测量合格的被测产品放在良品tray盘上、将侧面测量不合格的被测产品放在不良品tray盘上。

7.如权利要求6所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，在步骤S2之后还包括步骤S201：将空的第一tray盘输送至所述第三提取装置的下料区，所述下料区分为良品下料区和不良品下料区，第三提取装置将侧面测量合格的被测产品放在良品下料区上的第一tray盘、即良品tray盘上，第三提取装置将侧面测量不合格的被测产品放在不良品下料区上的第一tray盘、即不良品tray盘上。

8.如权利要求2至7任一项所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，所述第一测量装置依次对放置在第一测试平台上的被测产品上表面进行外形尺寸测量。

9.如权利要求8所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，所述第三测量装置依次对第二提取装置所提取的被测产品下表面进行外形尺寸测量。

10.如权利要求9所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，所述第二测量装置同时对放置在第二测试平台上的被测产品侧面进行外形尺寸测量。