[发明专利]微纳米CT投影数据的中心切片对齐方法

权利要求书

1.一种微纳米CT投影数据的中心切片对齐方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1，获取样品在投影角下的待校正投影图像序列为取所述待校正投影图像序列中的第一待校正投影图像P_A和第二待校正投影图像P_B，并获取所述第一待校正投影图像P_A对应的第一参考投影图像P_Astd以及所述第二待校正投影图像P_B对应第二参考投影图像P_Bstd；

步骤1中的“获取所述第一待校正投影图像P_A对应的第一参考投影图像P_Astd以及所述第二待校正投影图像P_B对应第二参考投影图像P_Bstd”的方法具体包括：

步骤11，将P_A,P_B分别按照预设的搜索角序列中的每一个角度进行旋转，得到两组旋转后的投影图像序列

步骤12，分别计算投影图像序列和的二维傅里叶变换，得到复数图像序列分别截取复数图像序列中每张复数图像中心的复数值

步骤13，按照下式计算和两两之间的匹配移动量m_Ai,Bj，将P_Ai向y轴正向移动m_Ai,Bj个单位，得到P′_Ai，计算P′_Ai和P_Bj的均方根误差err_i,j,称之为投影图像P_Ai和P_Bj的匹配误差，与两两之间的匹配误差则为其中i为虚数单位：

步骤14，找出匹配误差中最小值的索引i_min,j_min；

步骤15，利用频域匹配得到到的匹配移动量,记为

步骤16，将投影图像向上平移得到所述第一参考投影图像P_Astd，投影图像向下平移得到第二参考投影图像P_Bstd；

步骤2，将所述待校正投影图像序列中的第t张待校正投影图像P_t(t＝1,2,…,N_A,t≠A,B)按照预设的搜索角序列中的每一个角度进行旋转，得到一组旋转后的投影图像序列再与所述第一参考投影图像P_Astd按照如下子步骤进行中心切片频域匹配校正：

步骤21，计算第一参考投影图像P_Astd和投影图像序列的二维傅里叶变换，分别得到复数第一参考投影图像f(P_Astd)、复数图像序列分别截取f(P_Astd)和中每张复数图像的中心复数值f(P_Astd)_mid、值

步骤22，按照下式(1)计算投影图像P_tk到P_Astd的匹配移动量m_tk,将P_tk向y轴负向移动m_tk个单位，得到P′_tk，计算P′_tk和P_Astd的均方根误差err_k,称之为投影图像P_tk和P_Astd的匹配误差，P_Astd与之间的匹配误差则为其中i为虚数单位：

步骤23，获取匹配误差中的最小值索引k_min，得到摇摆校正角和校正摇摆角后的第t张投影图像

步骤24，利用中心切片频域匹配获取到P_Astd的匹配移动量记为

步骤25，将投影图像向上平移得到第t张投影图像的校正端跳误差后的投影图像P′_t,std；

步骤26，取不同的待校正投影图像，返回步骤2，直至校正完毕所述待校正投影图像序列中所有第t张待校正投影图像的摇摆和端跳，得到校正摇摆和端跳误差后的投影图像