[发明专利]微纳米CT投影图像的二次投影配准方法

权利要求书

1.一种微纳米CT投影图像的二次投影配准方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1，获取样品在投影角下的待校正投影图像序列为取所述待校正投影图像序列中的第一待校正投影图像P_A和第二待校正投影图像P_B，并获取所述第一待校正投影图像P_A对应的第一参考投影图像P_Astd以及所述第二待校正投影图像P_B对应第二参考投影图像P_Bstd；

步骤2，将所述待校正投影图像序列中的第t张待校正投影图像为P_t(t＝1,2,…,N_A,t≠A,B)与所述第一参考投影图像P_Astd按照如下子步骤进行二次投影的频域匹配校正：

步骤21，将P_t按照预设的搜索角序列中的每一个角度进行旋转，得到一组旋转后的投影图像序列

步骤22，计算的二次投影，得到一组二次投影信号序列

步骤23，对与进行频域匹配，并计算匹配误差其中，表示第一图像序列与第二图像序列的二次投影匹配对应的二次投影信号，其中，第一图像序列表示所述第一待校正投影图像P_A按搜索角序列中的每一个角度旋转后的图像序列，第二图像序列表示所述第二待校正投影图像P_B按搜索角序列中的每一个角度旋转后的图像序列；

步骤24，找出匹配误差中的最小值索引k_min，得到摇摆校正角和校正摇摆角后的第t张投影图像

步骤25，计算的二次投影，得到校正摇摆角后的第t张投影图的二次投影信号并利用频域匹配计算到的匹配移动量

步骤26，将投影图像向上平移得到第t张投影图像的校正端跳误差后的投影图像P′_t,std；

步骤27，取不同的待校正投影图像，返回步骤2，直至校正完毕所述待校正投影图像序列中所有第t张待校正投影图像的摇摆和端跳，得到校正摇摆和端跳误差后的投影图像

步骤1中的“获取所述第一待校正投影图像P_A对应的第一参考投影图像P_Astd以及所述第二待校正投影图像P_B对应第二参考投影图像P_Bstd”的方法具体包括：

步骤11，将P_A,P_B分别按照预设的搜索角序列中的每一个角度进行旋转，得到两组旋转后的投影图像序列

步骤12，计算的二次投影，得到两组二次投影信号序列

步骤13，对两两进行频域匹配，并计算匹配误差

步骤14，找出匹配误差中最小值的索引i_min,j_min；

步骤15，利用频域匹配计算二次投影到的匹配移动量

步骤16，将投影图像向上平移得到所述第一参考投影图像P_Astd，投影图像向下平移得到第二参考投影图像P_Bstd。

2.如权利要求1所述的微纳米CT投影图像的二次投影配准方法，其特征在于，步骤23具体包括：

步骤231，中的每一二次投影信号L_tk与分别为y轴方向的两个一维N元实数数组，其坐标均为{1,2,…,N},分别进行离散傅里叶变换，得到两个一维N元复数数组f(L_tk)和f(L_tk)和的中间项即第N/2项为低频项，分别记为f(L_tk)_mid和利用下式(1)计算二者的相角差其中i为虚数单位：

步骤232，将数组沿y轴方向正向移动个单位，仍取坐标{1,2,…,N}上的数所构成的数组L′_tk，得到数组序列

步骤233，计算与之间的均方根误差，得到匹配误差

3.如权利要求1所述的微纳米CT投影图像的二次投影配准方法，其特征在于，步骤25中的“用频域匹配计算到的匹配移动量的方法具体包括：

和分别为y轴方向的两个一维N元实数数组，其坐标均为{1,2,…,N},分别进行离散傅里叶变换，得到两个一维N元复数数组和和的中间项即第N/2项为低频项，分别记为和利用下式(2)计算二者的匹配移动量