[发明专利]一种轴承内外圈端面高度差测量装置在审
申请号: | 202011096854.6 | 申请日: | 2020-10-14 |
公开(公告)号: | CN112240757A | 公开(公告)日: | 2021-01-19 |
发明(设计)人: | 杨小礼 | 申请(专利权)人: | 杨小礼 |
主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08 |
代理公司: | 杭州知管通专利代理事务所(普通合伙) 33288 | 代理人: | 黄华 |
地址: | 317600 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 轴承 外圈 端面 高度 测量 装置 | ||
本发明公开了一种轴承内外圈端面高度差测量装置,包括固定在机架上的轴承定位轴和测量基架,测量基架位于轴承定位轴的正上方,所述测量基架上固定有气缸,气缸的活塞杆端部固定有升降板,升降板上固定有三个圆周均布的立柱,三个立柱的下端固定有滑动座,滑动座内成型有三个圆周均布的滑槽,每个滑槽内套接有与其相配合的滑块,滑块的下底面上固定有位移传感器,位移传感器的测量杆竖直向下设置;三个滑块设有驱使其同步移动的驱动机构。本发明通过三个可径向移动可升降的位移传感器可精准测量轴承内圈和轴承外圈的端面高度,可有效提高测量的效率和精度。
技术领域
本发明涉及轴承测量技术领域,具体涉及一种轴承内外圈端面高度差测量装置。
背景技术
轴承是当代机械设备中一种重要零部件,它的主要功能是支撑机械旋转体,降低其运动过程中的摩擦系数,并保证其回转精度,在轴承的加工完成后,通常需要对轴承的内圈和外圈的端面高度差进行检查,轴承的内圈和外圈的端面高度差太大往往会影响轴与孔的装配精度,但现有的测量方法一般是将轴承放置在平面上,然后用百分表在轴承内圈和外圈端面上进行移动,百分表显示的差值即是高度差,但这样的手工测量方式效率较为低下。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术的不足,提供一种轴承内外圈端面高度差测量装置,它通过三个可径向移动可升降的位移传感器可精准测量轴承内圈和轴承外圈的端面高度,可有效提高测量的效率和精度。
本发明解决所述技术问题的方案是:
一种轴承内外圈端面高度差测量装置,包括固定在机架上的轴承定位轴和测量基架,测量基架位于轴承定位轴的正上方,所述测量基架上固定有气缸,气缸的活塞杆端部固定有升降板,升降板上固定有三个圆周均布的立柱,三个立柱的下端固定有滑动座,滑动座内成型有三个圆周均布的滑槽,每个滑槽内套接有与其相配合的滑块,滑块的下底面上固定有位移传感器,位移传感器的测量杆竖直向下设置;三个滑块设有驱使其同步移动的驱动机构。
所述测量基架上设有三个圆周均布的定位套管,定位套管的上端面压靠在升降板上;
定位套管内套接并固定有直线轴承,每个直线轴承插套在对应的一个立柱上。
所述驱动机构包括铰接在滑动座中部的竖直设置的驱动杆,驱动杆的上端螺接有第一铰接座,第一铰接座螺接有三个圆周均布的推拉臂,推拉臂的下端铰接在对应的一个滑块上;所述驱动杆的下端固定有大齿轮,大齿轮啮合有小齿轮,小齿轮固定在电机的电机轴上,电机与滑动座固定连接。
所述滑动座的中部成型有横截面呈“工”字型的轴承孔,轴承孔内套接有上下设置的第一轴承和第二轴承,第一轴承压靠在驱动杆的凸环上,驱动杆的下端成型有螺柱,螺柱螺接有锁紧螺母,锁紧螺母压靠在第二轴承的内圈下端面上。
本发明的突出效果是:与现有技术相比,其通过三个可径向移动可升降的位移传感器可精准测量轴承内圈和轴承外圈的端面高度,可有效提高测量的效率和精度。
附图说明
图1为本发明的结构示意图;
图2为本发明的省去轴承定位轴的第一三维示意图;
图3为本发明的省去轴承定位轴的第一三维示意图。
具体实施方式
实施例,见如图1至图3所示,一种轴承内外圈端面高度差测量装置,包括固定在机架上的轴承定位轴1和测量基架2,测量基架2位于轴承定位轴1的正上方,所述测量基架2上固定有气缸31,气缸31的活塞杆端部固定有升降板32,升降板32上固定有三个圆周均布的立柱33,三个立柱33的下端固定有滑动座34,滑动座34内成型有三个圆周均布的滑槽341,每个滑槽341内套接有与其相配合的滑块35,滑块35的下底面上固定有位移传感器36,位移传感器36的测量杆361竖直向下设置;三个滑块35设有驱使其同步移动的驱动机构4。
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