[发明专利]基于改进注意力机制的薄膜瑕疵检测方法有效

专利信息
申请号: 202011100208.2 申请日: 2020-10-15
公开(公告)号: CN112233090B 公开(公告)日: 2023-05-30
发明(设计)人: 王慧燕;沈秋芳;何浩 申请(专利权)人: 浙江工商大学;浙江小芃科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06N3/0464;G06N3/08
代理公司: 杭州奥创知识产权代理有限公司 33272 代理人: 王佳健
地址: 310018 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 基于 改进 注意力 机制 薄膜 瑕疵 检测 方法
【权利要求书】:

1.基于改进注意力机制的薄膜瑕疵检测方法,其特征在于该方法包括如下步骤:

步骤1、使用工业相机采集薄膜图像,手工标注薄膜瑕疵,得到一个薄膜数据集;

步骤2、在coco大型目标检测数据集上训练YOLOv5网络,得到一个YOLOv5的预训练网络模型;

步骤3、对YOLOv5的预训练网络模型的结构进行修改;

步骤4、在薄膜数据集上重新训练修改过的网络模型,训练得到一个新的网络模型,即目标网络模型;

步骤5、将目标网络模型加载到薄膜实时检测系统中,将相机采集的实时薄膜数据载入系统中进行检测;

其中步骤3具体是按如下步骤处理主干网络输出的特征表示X:

(1)将图像I中所有像素结构化为K个目标区域{M1,M2,...,MK},每个目标区域Mk对应于类k,由一个2维映射表示,其中每个2维映射表示对应像素属于类k的程度;

(2)通过将第k个目标区域中所有像素的表示集合,将每个目标区域表示为fk,即将所有属于第k个目标区域的像素按相似度加权集合表示,形成第k个目标区域;

(3)计算每个像素与每个目标区域的关系;

(4)通过对K个目标区域表示进行聚合,并考虑每个像素与所有目标区域的关系,对每个像素的表示进行增强,得到像素pi的对象上下文表示yi

(5)对原始像素表示X进行如下两个运算:

其中Mc和Ms分别代表在通道维度和空间维度上做注意力操作;

(6)像素zi最终由两部分聚合得到,经过通道和空间注意力得到的特征X″i以及对象上下文表示yi

其中ω(·)为转换函数。

2.根据权利要求1所述的基于改进注意力机制的薄膜瑕疵检测方法,其特征在于:

步骤4具体是:将经过修改的网络模型在薄膜数据集上进行训练,训练时将网络模型中未修改部分的参数载入预训练模型的网络参数,修改的部分参数进行Kaiming初始化,经过训练后得到目标网络。

3.根据权利要求1所述的基于改进注意力机制的薄膜瑕疵检测方法,其特征在于:

步骤5具体是:将采集薄膜图像的相机部署在生产线上,实时获取薄膜图像,将图像传入系统中进行实时检测;若检测到瑕疵,系统自动将图像中的瑕疵用矩形框标注出来。

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