[发明专利]一种腔体滤波器调试方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种腔体滤波器快速调试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S0.对标准滤波器上的每个调试螺钉独立进行多次扰动并获取在每次扰动下标准滤波器的散射参数，记录每个螺钉每次扰动时的扰动量及对应的滤波器散射参数；

S1.获取待调滤波器的散射参数S_Mea；

S2.根据预先获取的标准滤波器训练数据计算各螺钉扰动量对应的散射参数经叠加后的多组散射参数S_approx，选取最接近当前待调滤波器散射参数S_Mea的一组散射参数S_approx，该组散射参数S_approx对应的各螺钉扰动量即为待调滤波器的各螺钉扰动量；

S3.在基于获取的各螺钉扰动量进行待调滤波器调试后，再获取待调滤波器的散射参数S_Mea并判断是否达标，若达标则调试完毕，若不达标则重复步骤S2；

其中，所述步骤S0具体为：

S0.1.选取一个已调试达标的腔体滤波器为标准滤波器，该标准滤波器具有R颗调试螺钉，获取该标准滤波器的散射参数S₀；

S0.2.设定单个螺钉的单向扰动最大次数为K，逐次单独对第i个调试螺钉进行扰动并获取散射参数，记录第k次扰动后的螺钉扰动量Δz(i,k)和对应散射参数S(i,k)，其中i＝1,2,3…R,k＝1,2,3..2K，2K+1；所有螺钉均单独扰动2K+1次后，得到训练集P＝{Δz(i,k),S(i,k),i＝1,2,3…R,k＝1,2,3..2K,2K+1}；

其中，所述步骤S2具体为：将训练集P中各组散射参数S(i,k)按各螺钉叠加后近似等效为多组散射参数S_approx，其中ΔS_i表示第i颗螺钉第k次扰动后导致散射参数发生的变化，选取最接近散射参数S_Mea的一组散射参数S_approx，该散射参数S_approx叠加的各S(i,k)在训练集P中对应的各螺钉扰动量Δz(i,k)即为待调滤波器的各螺钉扰动量。

2.根据权利要求1所述的调试方法，其特征在于：所述步骤S0.2中，扰动过程具体为：确定每个螺钉每次的最小扰动量Δz_i0,扰动过程中Δz_i在[-KΔz_i0,KΔz_i0]范围内共计变化2K+1次，每次增量为Δz_i0，Δz_ik＝(k-K-1)Δz_i0，k＝1,2..2K，2K+1。

3.根据权利要求1所述的调试方法，其特征在于：所述步骤S2中，选取最接近散射参数S_Mea的一组散射参数S_approx过程具体为：近似误差S_diff为

则S_diff的均方根误差为：

在训练集P内，遍历训练集中每个螺钉不同扰动次对应的参数S_approx的所有组合，获取RMSE的最小值，则对应获得最接近散射参数S_Mea的散射参数S_approx。