[发明专利]用于测试电子部件的分选机

说明书

本发明涉及一种用于测试电子部件的分选机。根据本发明的用于测试电子部件的分选机包括：移动腔室，可以收容堆载有电子部件的测试托盘，且沿着预定的移动路径移动。并且，移动腔室可以包括：第一腔室部分，用于调节堆载于测试托盘的电子部件的温度；第二腔室部分，用于使堆载于测试托盘的电子部件的温度恢复至常温。根据本发明，通过构成移动腔室而能够以单元形式配置多个测试窗口，因此可大幅缩小相对于处理容量的设置空间，并通过将一个腔室分为两个来另行设置其功能，可以最小化设置面积。

本申请是申请日为2017年9月8日、申请号为201710805550.4、题为“用于测试电子部件的分选机”的专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种用于测试电子部件的分选机。

背景技术

被生产的电子部件在被测试器测试后分为良品与次品而仅使良品出厂。

测试器与电子部件的电连接通过用于测试电子部件的分选机(以下简称“分选机”)实现，而根据电子部件的种类有着各种各样的分选机。其中，本发明涉及一种应用了能够堆载多个电子部件的测试托盘的分选机。

应用测试托盘的分选机有包括韩国公开专利10-2013-0105104号等在内的多种形态，通常，如图1的概念性的平面图所示，包括：装载机110；第一腔室120；测试腔室130；连接器140；第二腔室150以及卸载机160。

装载机110将堆载于客户托盘(Customer-tray)CT₁的待测试的电子部件装载到位于装载位置(LP：LOADING POSITION)的测试托盘TT。

第一腔室120为了在对堆载于被收容的测试托盘TT的电子部件进行测试之前根据测试温度条件提前进行温度调节(预热或预冷)而配备。

测试腔室130为了对在第一腔室120被预热/预冷后移送到测试位置(TP：TESTPOSITION)的测试托盘TT上的电子部件进行测试而配备。即，测试腔室130为了使堆载于被收容的测试托盘TT上的电子部件的温度维持在测试温度条件而配备。

连接器140将堆载于测试位置TP的测试托盘TT上的电子部件电连接于测试器。

第二腔室150为了对从测试腔室130移送过来的测试托盘TT上处于被加热的状态的电子部件进行冷却使其恢复至室温或者卸载时不出现问题的程度的预定温度而配备。

卸载机160在从位于卸载位置(UP：UNLOADING POSITION)的测试托盘TT卸载电子部件的同时按测试等级进行分类并使其移动到空的客户托盘CT₂。

如上所述，测试托盘TT按照经过装载位置LP、测试位置TP以及卸载位置UP而重新回到装载位置LP的循环路径CC进行循环，为此，未图示的多个移送器在形成循环路径CC的各个区间移送测试托盘TT。

另外，如图1所示，分选机100具有测试腔室130位于第一腔室110与第二腔室150之间的结构与向封闭的循环路径CC移送测试托盘TT的结构，因此考虑到装备的宽度与高度时，很难配置4个以上的测试窗口TW。在这里，测试窗口TW是指电子部件与测试器(TESTER)电连接的窗口，每1个测试窗口TW对应于1个测试托盘TT。当然，测试器(TESTER)通过测试窗口TW与分选机100结合。

因此，通过1次即可测试的电子部件也限定于堆载于至少1个至最多3个的测试托盘TT的数量，这使不能无限扩大大小的分选机100具有处理容量的极限。

发明内容

本发明的目的是提供一种一个用于温度调节的腔室可以向多个测试窗口供应测试托盘或者可以接收来自多个测试窗口的测试托盘的技术。