[发明专利]基于柔性的氧化镓/氮化镓结构的光电探测器及制备方法有效
申请号: | 202011106989.6 | 申请日: | 2020-10-16 |
公开(公告)号: | CN112382688B | 公开(公告)日: | 2022-11-04 |
发明(设计)人: | 尹以安;李佳霖 | 申请(专利权)人: | 华南师范大学 |
主分类号: | H01L31/105 | 分类号: | H01L31/105;H01L31/0336;H01L31/0352;H01L31/0392;H01L31/18 |
代理公司: | 广州专理知识产权代理事务所(普通合伙) 44493 | 代理人: | 张凤 |
地址: | 510000 广东省广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 柔性 氧化 氮化 结构 光电 探测器 制备 方法 | ||
1.一种基于柔性的氧化镓/氮化镓结构的光电探测器的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
1)清洗柔性衬底;
2)采用MOCVD工艺外延生长获得p-GaN层和GaN层:通过MOCVD工艺在蓝宝石衬底上依次外延生长GaN缓冲层、重掺杂n-GaN层和的Mg掺杂P型GaN层得到p-GaN层,继续外延生长的GaN层;
3)采用MOCVD工艺在步骤2)的GaN层上外延生长Si掺杂的n型β-Ga2O3层;
4)在n型β-Ga2O3层上沉积一层SiO2层,再涂上光刻胶,刻蚀、去胶,得到SiO2正方形阵列;
5)之后继续刻蚀n型β-Ga2O3层形成微纳倒梯形结构,除去SiO2掩膜层,则获得表面带有微纳倒梯形结构的n型β-Ga2O3层;
6)将步骤5)得到的外延生长结构刻蚀除去生长衬底,转移到步骤1)的柔性衬底上,并在柔性衬底和n型β-Ga2O3层的未刻蚀部分沉积电极。
2.由权利要求1所述的光电探测器的制备方法,其特征在于,所述步骤4)的具体操作包括在n型β-Ga2O3层上沉积一层SiO2层,再涂上一层光刻胶,曝光后,用BOE溶液将SiO2掩膜层刻蚀,然后去胶,得到SiO2正方形阵列。
3.由权利要求1所述的光电探测器的制备方法,其特征在于,所述步骤6)的具体操作包括通过电化学剥离法将重掺杂n-GaN刻蚀进行腐蚀,然后将其外延生长结构转移到步骤1)清洗后的柔性衬底PET上,分别在柔性衬底PET和n型β-Ga2O3层的未刻蚀部分上沉积Ti/Au电极。
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