[发明专利]晶振的时钟频率的校准方法、装置及电子设备有效
申请号: | 202011107224.4 | 申请日: | 2020-10-16 |
公开(公告)号: | CN112383301B | 公开(公告)日: | 2023-03-24 |
发明(设计)人: | 陈昊然;姜滨;迟小羽 | 申请(专利权)人: | 歌尔科技有限公司 |
主分类号: | H03L1/02 | 分类号: | H03L1/02;H03L7/24;H04J3/06;G01S19/14 |
代理公司: | 北京博雅睿泉专利代理事务所(特殊普通合伙) 11442 | 代理人: | 吴秀娥 |
地址: | 266104 山东省青岛*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 时钟 频率 校准 方法 装置 电子设备 | ||
1.一种晶振的时钟频率的校准方法,其特征在于,应用于电子设备,所述方法包括:
在所述电子设备定位成功后,启动晶振校准流程;
所述晶振校准流程包括:控制所述电子设备执行升温指令;以及,在所述电子设备的设备温度的升高幅度达到第一幅度阈值时,对所述电子设备的晶振的时钟频率进行校准;
其中,所述晶振校准流程包括依序排列的三个校准阶段,所述启动晶振校准流程包括:依序执行每一所述校准阶段;
所述执行每一所述校准阶段包括:
确定与当前校准阶段对应的目标信号量;
在接收到的卫星信号的信号量达到目标信号量时,控制所述电子设备执行升温指令;以及,
在所述电子设备的设备温度的升高幅度达到第一幅度阈值时,根据所述卫星信号对所述晶振的时钟频率进行一次校准。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在执行每一所述校准阶段之后,所述方法还包括:
获取所述电子设备的设备温度;
在所述设备温度达到预设的第一温度时,获取当前校准阶段对应的校准结果。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在获取当前校准阶段对应的校准结果之后,所述方法还包括:
比较当前校准阶段对应的校准结果与预存的当前校准阶段对应的目标校准结果;
在所述当前校准阶段对应的校准结果与预存的当前校准阶段对应的目标校准结果一致的情况下,确定当前校准阶段校准成功;
在确定当前校准阶段校准成功之后,进入下一校准阶段;
在确定最后一个校准阶段校准成功之后,确定晶振校准成功,并结束所述晶振校准流程。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在所述当前校准阶段对应的校准结果与预存的当前校准阶段对应的目标校准结果一致的情况下,确定当前校准阶段校准失败。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在确定当前校准阶段校准失败的情况下,判断校准时长是否超过预设的时间阈值;
在所述校准时长未超过预设的时间阈值的情况下,重新启动晶振校准流程;
在所述校准时长超过预设的时间阈值的情况下,确定晶振校准失败,并结束所述晶振校准流程。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在确定当前校准阶段校准失败的情况下,判断当前校准阶段的校准次数是否超过预设的次数阈值;
在所述校准次数未超过预设的次数阈值的情况下,重新启动晶振校准流程;
在所述校准次数超过预设的次数阈值的情况下,确定晶振校准失败,并结束所述晶振校准流程。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:接收卫星信号的步骤;
所述接收卫星信号,包括:
控制所述电子设备执行升温指令;
在所述电子设备的设备温度达到预设的第二温度时,接收卫星信号。
8.一种晶振的时钟频率的校准装置,其特征在于,包括:
校准模块,用于在所述电子设备定位成功后,启动晶振校准流程;
所述校准模块,包括:
升温单元,用于控制所述电子设备执行升温指令;
校准单元,用于在所述电子设备的设备温度的升高幅度达到第一幅度阈值时,对所述电子设备的晶振的时钟频率进行校准;
其中,所述晶振校准流程包括依序排列的三个校准阶段,所述校准模块,具体用于依序执行每一所述校准阶段;所述执行每一所述校准阶段包括:确定与当前校准阶段对应的目标信号量;在接收到的卫星信号的信号量达到目标信号量时,控制所述电子设备执行升温指令;以及,在所述电子设备的设备温度的升高幅度达到第一幅度阈值时,根据所述卫星信号对所述晶振的时钟频率进行一次校准;
或者,
包括存储器和处理器,所述存储器用于存储可执行的指令;所述处理器用于根据所述指令的控制进行操作以执行如权利要求1至7中任一项所述的方法。
9.一种电子设备,其特征在于,包括定位模块和如权利要求8所述的晶振的时钟频率的校准装置。
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