[发明专利]一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法

说明书

本发明涉及一种块效应校正方法，为解决现有探测器响应不一致的矫正方法，由于忽略了探测器块效应的动态变化，无法适用于大视场高分辨率干涉成像光谱仪图像非均一性校正的技术问题，提供一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法，包括通过干涉成像光谱仪分别在积分球不同亮度等级下连续采集光源数据，按照时间顺序按预设时间间隔对采集数据进行分割后求取平均值图像，按照干涉维取平均得到空间维块效应曲线，再进行多项式拟合得到消除块效应光滑曲线，通过比值法求取块效应校正系数，干涉成像光谱仪采集的数据与相应时间的块效应校正系数相除得到消除块效应干涉图。

技术领域

本发明涉及一种探测器块效应校正方法，具体涉及一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法。

背景技术

对于大视场高分辨率干涉成像光谱仪，由于对其获取图像具有范围广和分辨率高的需求，一般需要配置大探测器面阵。在实际的仪器制造过程中，大探测器面阵通常采用多个探测器拼接而成，CCD驱动信号经过驱动器后输送给CCD，光谱仪CCD(电荷耦合器件)水平驱动信号与AD采样时钟之间的相位关系会随温度产生变化，驱动器对信号的延迟随器件工作温度有ns级漂移，造成采样位置随成像时间漂移，导致探测器拼接缝位置响应发生变化，随温度和时间变化，即形成块效应。

目前，探测器响应不一致的校正方法往往是针对稳定工况下的不一致进行校正，忽略了探测器块效应的动态变化，因此，该类校正方法无法适用于大视场高分辨率干涉成像光谱仪图像非均一性校正。

发明内容

本发明为解决现有探测器响应不一致的矫正方法，由于忽略了探测器块效应的动态变化，无法适用于大视场高分辨率干涉成像光谱仪图像非均一性校正的技术问题，提供一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法，其特殊之处在于，包括以下步骤：

S1，通过干涉成像光谱仪分别在积分球不同亮度等级下连续采集光源数据；

S2，按照时间顺序，对经步骤S1采集的光源数据按预设时间间隔进行分割，得到多段光源数据，在每段光源数据中选取连续的50-100％帧图像，分别对每段光源数据中选取的连续50-100％帧图像求取平均值图像，并分别对各平均值图像进行相对定标；

S3，对经步骤S2相对定标的各平均值图像按照干涉维取平均，得到多个空间维块效应曲线；

S4，对每个所述空间维块效应曲线进行多项式拟合，得到多个消除块效应光滑曲线；

S5，根据每个空间维块效应曲线对应的DN值和相应的每个消除块效应光滑曲线对应的DN值，通过比值法得到与预设时间间隔相应的各对应时间下的块效应校正系数；

S6，对干涉成像光谱仪各对应时间下获取的数据进行相对定标，再通过相应的块效应校正系数，得到对应时间下的消除块效应干涉图。

进一步地，所述步骤S2具体为：

按照时间顺序，以1秒钟时间间隔对经步骤S1采集的光源数据进行分割，得到多段光源数据，在每段光源数据中选取连续100帧图像，分别对每段光源数据中选取的连续100帧图像求取平均值图像，并分别对各平均值图像进行相对定标。

进一步地，所述步骤S3具体为：

通过下式对经步骤S2相对定标的各平均值图像按照干涉维取平均，得到多个空间维块效应曲线Line_B(t)：

Line_B(t)＝mean(I_c(t),Line_start,Line_end,dim)