[发明专利]一种高阻膜测试系统及其测试方法

权利要求书

1.一种高阻膜测试系统，其特征在于，包括上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置、附着力测量装置和控制装置，其中：

所述硬度测量装置，用于对高阻膜的硬度进行检测，并将其与预设的硬度值进行对比，得出测试结果；

所述厚度测量装置，用于对高阻膜的厚度进行检测，并将其与预设的厚度值进行对比，得出测试结果；

所述亮度测量装置，用于对高阻膜的透光效果进行检测，并将其与预设的透光率进行对比，得出测试结果；

所述电阻测量装置，用于对高阻膜的电阻进行检测，并将其与预设的电阻值进行对比，得出测试结果；

所述附着力测量装置，用于对高阻膜的附着力进行检测，并将其与预设的电阻值进行对比，得出测试结果；

所述上卸料装置，用于将待检测的高阻模转移到硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置和附着力测量装置的检测工位上，所述上卸料装置还用于将检测合格或不合格的产品移出检测工位；

所述控制装置与上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置以及附着力测量装置信号连接，用于对上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置以及附着力测量装置进行控制。

2.根据权利要求1所述的高阻膜测试系统，其特征在于，所述上卸料装置包括转动盘和沿所述转动盘的圆周方向设置的若干个机械手，在所述转动盘上开设有检测凹槽和废品槽，所述机械手用于将所述高阻膜放置到所述检测凹槽、所述检测工位或所述废品槽中，所述上卸料装置还包括驱动所述转动盘转动的伺服电机，所述伺服电机与所述控制装置信号连接。

3.根据权利要求1所述的高阻膜测试系统，其特征在于，所述硬度测量装置包括硬度测试台和设置在所述硬度测试台上的硬度测试仪，所述硬度测试台包括可调节高度的支撑杆和连接在所述支撑杆上的支撑台面，所述支撑台面上开设有限位槽，所述硬度测试仪的底面位于所述限位槽中。

4.根据权利要求1所述的高阻膜测试系统，其特征在于，所述厚度测量装置包括基准台面和设置在所述基准台面一侧的厚度检测机构，所述厚度检测机构为膜厚台阶机。

5.根据权利要求1所述的高阻膜测试系统，其特征在于，所述亮度测量装置包括光源和检测透过所述高阻膜后的光线的亮度的亮度检测装置，所述高阻膜设置在所述光源和所述亮度检测装置之间。

6.根据权利要求1所述的高阻膜测试系统，其特征在于，所述电阻测量装置包括电阻检测基座、第一检测头、第二检测头和电阻检测仪，所述第一检测头设置在电阻检测基座上表面开设的凹槽中，所述第二检测头可上下移动的设置在所述凹槽上方，所述第一检测头和所述第二检测头均与所述电阻检测仪连接。

7.根据权利要求1所述的高阻膜测试系统，其特征在于，所述附着力测量装置包括划线台、划格机构和摄像头，所述划格机构包括横向划刀、纵向划刀、连接在横向划刀上的横向驱动结构和连接在所述纵向划刀上的纵向驱动结构，所述摄像头的拍摄方向正对放置在所述划线台上的高阻膜。

8.根据权利要求2所述的高阻膜测试系统，其特征在于，所述检测凹槽为匹配高阻膜的矩形凹槽，且所述检测凹槽与上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置和附着力测量装置分别对应，所述废品槽为开设在所述转动盘上的环形凹槽。