[发明专利]二维耦合光栅结构及其串扰测试结构

权利要求书

1.一种二维耦合光栅结构，包括：

主体，所述主体包括第一入射面和第二入射面，所述第一入射面和所述第二入射面相互垂直；

光栅阵列，所述光栅阵列设置于所述主体中，所述光栅阵列中的光栅分别沿第一方向和第二方向分布，所述第一方向垂直于所述第一入射面的方向，所述第二方向为垂直于所述第二入射面的方向，所述光栅阵列中沿所述第一方向的光栅周期和沿所述第二方向的光栅周期互不相同；

所述光栅阵列用于使第一光信号和第二光信号正交偏振耦合后输出，所述第一光信号为从所述第一入射面输入的光信号，所述第二光信号为从所述第二入射面输入的光信号。

2.根据权利要求1所述的一种二维耦合光栅结构，其特征在于：还包括第一波导和第二波导，所述第一波导与所述第二波导相互垂直，所述第一波导与所述第一入射面相垂直，所述第二波导与所述第二入射面相垂直。

3.根据权利要求2所述的一种二维耦合光栅结构，其特征在于，还包括：

第一扩束波导，所述第一扩束波导连接于所述第一波导和所述第一入射面之间；

第二扩束波导，所述第二扩束波导连接于所述第二波导和所述第二入射面之间。

4.根据权利要求3所述的一种二维耦合光栅结构，其特征在于：所述主体还包括第一出射面和第二出射面，所述第一出射面和所述第二出射面相垂直，所述第一出射面与所述第一入射面相互平行，所述第二出射面与所述第二入射面相互平行。

5.根据权利要求1所述的一种二维耦合光栅结构，其特征在于：所述光栅阵列中沿所述第一方向的占空比和沿所述第二方向的占空比互不相同。

6.一种串扰测试结构，包括：

输入偏振结构，所述输入偏振结构中设置有偏振光栅；

测试元件，所述测试元件的输入端通过第三波导与所述输入偏振结构相连接，所述测试元件包括至少一个输出端，所述测试元件的输出端连接有如权利要求1至5任意一项所述的一种二维耦合光栅结构；

分光元件，所述分光元件的输入端与所述测试元件的输出端通过第四波导相连接，所述分光元件的输出端分别与所述第一入射面和所述第二入射面相连接；

所述分光元件用于根据预先设定的分光比将所述测试元件一个输出端所输出的光信号分为所述第一光信号和所述第二光信号。

7.根据权利要求6所述的一种串扰测试结构，其特征在于：所述输入偏振结构中的偏振光栅为单偏振光栅。

8.根据权利要求6所述的一种串扰测试结构，所述二维耦合光栅结构还包括第一波导和第二波导，所述第一波导与所述第一入射面相连接，所述第二波导与所述第二入射面相连接，其特征在于：所述分光元件分别与所述第一波导和第二波导相连接。

9.根据权利要求8所述的一种串扰测试结构，其特征在于：所述分光元件的输入方向与所述输入偏振结构的输入方向相互平行。

10.据权利要求9所述的一种串扰测试结构，其特征在于：所述输入偏振结构的输入端和所述主体的输出端位于同一平面。