[发明专利]一种电路板的吸附性能检测方法及检测系统

权利要求书

1.一种电路板的吸附性能检测方法，其特征在于，所述电路板的吸附性能检测方法包括：

获取到待检测电路板；

对所述待检测电路板进行染色处理；

采集由所述待检测电路板的表面向内渗入染色剂的染色长度，通过所述染色长度确定所述待检测电路板的吸附性能。

2.根据权利要求1所述电路板的吸附性能检测方法，其特征在于，所述待检测电路板包括非电镀通孔时，所述采集由所述待检测电路板的表面向内渗入染色剂的染色长度，通过所述染色长度确定所述待检测电路板的吸附性能的步骤包括：

采集所述待检测电路板上由所述非电镀通孔的孔壁向内渗入染色剂的染色长度，通过所述染色长度确定所述电路板的吸附性能；

其中，所述染色长度与所述电路板的吸附性能呈正相关。

3.根据权利要求2所述电路板的吸附性能检测方法，其特征在于，所述待检测电路板包括至少2个非电镀通孔时，所述采集所述待检测电路板上由所述非电镀通孔的孔壁向内渗入染色剂的染色长度，通过所述染色长度确定所述电路板的吸附性能的步骤包括：

采集所述至少2个非电镀通孔的所述染色长度；

计算得到所述至少2个非电镀通孔的所述染色长度的平均值，通过所述平均值确定所述电路板的吸附性能；

其中，所述电路板的吸附性能与所述平均值大小呈正相关。

4.根据权利要求2所述电路板的吸附性能检测方法，其特征在于，所述采集所述待检测电路板上由所述非电镀通孔的孔壁向内渗入染色剂的染色长度，通过所述染色长度确定所述电路板的吸附性能的步骤包括：

对所述待检测电路板进行固化处理；

对所述待检测电路板进行研磨抛光处理，得到检测面；

测量所述检测面上由所述非电镀通孔的孔壁向内渗入染色剂的染色长度，通过所述染色长度确定所述电路板的吸附性能；

其中，所述检测面与所述非电镀通孔的轴线平行或者与所述非电镀通孔的轴线垂直，所述检测面与所述非电镀通孔的孔壁相交。

5.根据权利要求1所述电路板的吸附性能检测方法，其特征在于，所述对所述待检测电路板进行染色处理的步骤包括：

对所述待检测电路板进行烘干处理并冷却；

将冷却的所述待检测电路板浸入染色剂中，进行染色处理。

6.根据权利要求5所述电路板的吸附性能检测方法，其特征在于，所述将冷却的待检测电路板浸入染色剂中，进行染色处理的步骤包括：

将所述待检测电路板与所述染色剂置于负压环境中进行预设时长的染色处理，以将所述待检测电路板孔隙中的空气抽出并使所述染色剂沿所述待检测电路板的表面向内渗入；

对染色后的待检测电路板进行烘干处理。

7.根据权利要求5所述电路板的吸附性能检测方法，其特征在于，所述待检测电路板为多个时，所述对所述待检测电路板进行烘干处理并冷却的步骤包括：

采用相同的烘烤温度和烘烤时间对各个待检测电路板进行烘干处理。

8.根据权利要求1或7所述电路板的吸附性能检测方法，其特征在于，所述待检测电路板为多个时，所述采集由所述待检测电路板的表面向内渗入染色剂的染色长度，通过所述染色长度确定所述待检测电路板的吸附性能步骤包括：

采集各个所述待检测电路板沿所述待检测电路板表面向内渗入染色剂的染色长度；

将各个所述待检测电路板的染色长度与其他待检测电路板的染色长度进行比较，根据比较结果确定所述待检测电路板的吸附性能；

其中，所述待检测电路板的吸附性能与所述待检测电路板的染色长度呈正相关。

9.一种电路板的吸附性能检测系统，其特征在于，所述电路板的吸附性能检测系统包括：

染色装置，以对待检测电路板进行染色处理；

长度测量装置，与所述染色装置相对设置，以测量所述待检测电路板的表面向内渗入染色剂的染色长度，通过所述染色长度确定所述待检测电路板的吸附性能。

10.根据权利要求9所述电路板的吸附性能检测系统，其特征在于，所述电路板的吸附性能检测系统包括：

烘干装置；所述烘干装置对所述待检测电路板进行烘干处理。