[发明专利]基于三维点云的表面平整度的检测方法、系统及介质

权利要求书

1.基于三维点云的表面平整度的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

对待测表面进行三维点云采集，获取若干采样点的数据形成点云，将所述点云转化为有序点阵；

构建第一参考窗口，根据所述第一参考窗口遍历所述有序点阵，在遍历过程中，通过自然邻点插值得到当前的局部参考面，根据局部参考面的当前位置得到第一矩阵的元素，完成遍历后根据所述元素构成第一矩阵；

根据所述第一矩阵得到平整度图像，并通过性能指标公式得到平整度；

根据所述平整度图像，确定所述待测表面的缺陷点。

2.根据权利要求1所述的基于三维点云的表面平整度的检测方法，其特征在于，所述遍历的方式包括以下两者至少之一：平移遍历或旋转遍历。

3.根据权利要求1所述的基于三维点云的表面平整度的检测方法，其特征在于，所述将所述点云转化为有序点阵这一步骤，其具体包括：

将所述点云投影至第一平面得到共面点云；

构建网格，根据所述网格对所述共面点云进行划分，根据所述网格的网格单元得到若干点云子集；

根据所述网格对应的点云子集得到所述点云子集在投影前的点云；根据所述投影前的点云中的点到所述第一平面的平均距离，得到网格点的值；

遍历所述网格，根据所述网格点的值得到有序点阵。

4.根据权利要求1所述的基于三维点云的表面平整度的检测方法，其特征在于，所述在遍历过程中，通过自然邻点插值得到当前的局部参考面，根据局部参考面的当前位置得到第一矩阵的元素，完成遍历后根据所述元素构成第一矩阵这一步骤，其具体包括：

根据所述第一参考窗口的大小，从所述有序点阵中选取得到高度矩阵；

根据所述高度矩阵的四个顶点进行自然邻点插值，得到插值矩阵；

将所述插值矩阵与所述高度矩阵做差得到差值矩阵，计算所述差值矩阵中元素的均值得到所述第一矩阵中的元素；

移动所述第一参考窗口，遍历所述有序点阵，确定各个位置在所述第一矩阵中的元素；根据遍历后得到所有元素构成第一矩阵。

5.根据权利要求1所述的基于三维点云的表面平整度的检测方法，其特征在于，所述根据所述第一矩阵得到平整度图像，并通过性能指标公式得到平整度这一步骤，其具体包括：根据所述第一矩阵绘制高程图，根据所述高程图得到所述平整度图像；

根据遍历的方式构建所述性能指标公式，将第一矩阵代入所述性能指标公式计算得到平整度。

6.基于三维点云的表面平整度的检测系统，其特征在于，包括：

采样单元，用于获取若干采样点的数据得到点云；对待测表面进行三维点云采集，获取若干采样点的数据形成点云；

数据预处理单元，将所述点云转化为有序点阵；

遍历插值单元，用于构建第一参考窗口，根据所述第一参考窗口遍历所述有序点阵，在遍历过程中，通过自然邻点插值得到当前的局部参考面，根据局部参考面的当前位置得到第一矩阵的元素，完成遍历后根据所述元素构成第一矩阵；

平整度输出单元，用于根据所述第一矩阵得到平整度图像，并通过性能指标公式得到平整度，根据所述平整度图像，确定所述待测表面的缺陷点。

7.基于三维点云的表面平整度的检测系统，其特征在于，包括：

至少一个处理器；

至少一个存储器，用于存储至少一个程序；

当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行，使得所述至少一个处理器实现如权利要求1-5任一项所述的基于三维点云的表面平整度的检测方法。

8.一种存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，其特征在于：所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于实现如权利要求1-5中任一项所述的基于三维点云的表面平整度的检测方法。