[发明专利]效能计算系统、效能计算方法与电子装置

说明书

本揭示文件有关一种效能计算系统、效能计算方法与电子装置。一种效能计算方法，适用于晶片，晶片包含多个振荡器电路系统，多个振荡器电路系统用于产生多个振荡信号，且用于感测晶片的工作状态以改变多个振荡信号的周期。计算方法包含以下流程：当晶片处于第一工作状态时，依据多个振荡信号的周期，且依据晶片的第一效能值或第一效能值的近似值建构第一函数；当晶片处于第二工作状态时，依据多个振荡信号的周期，且依据晶片的第二效能值或第二效能值的近似值建构第二函数；依据第一与第二函数的图形的走势，调整第一或第二函数的系数，使第一与第二函数的图形相交于一座标点；依据第一与第二函数建构晶片的效能函数。上述的计算方法能精确估计晶片的效能。

技术领域

本揭示文件有关一种效能计算系统与其效能计算方法，尤指一种适用于集成电路的效能计算系统与其效能计算方法。

背景技术

集成电路广泛应用于各种电子装置中，而集成电路的效能(例如，延迟时间)常会影响电子装置的使用者体验。在一些时序特性分析方法中，关键路径(critical path)上的信号传输特性被用于估计集成电路的效能，因关键路径决定了集成电路可操作的最高频率。

发明内容

本揭示文件提供适用于晶片的一种效能计算方法。晶片包含多个振荡器电路系统，多个振荡器电路系统用于产生多个振荡信号，且用于感测晶片的工作状态以调整多个振荡信号的周期。效能计算方法包含以下流程：当晶片处于第一工作状态时，依据多个振荡信号的周期，且依据晶片的第一效能值或第一效能值的近似值建构第一函数；当晶片于第二工作状态时，依据多个振荡信号的周期，且依据晶片的第二效能值或第二效能值的近似值建构第二函数；依据第一函数的图形与第二函数的图形的走势，调整第一函数的系数或第二函数的系数，以使第一函数的图形与第二函数的图形相交于座标点；依据第一函数与第二函数建构晶片的效能函数。

在上述效能计算方法的某些实施例中，晶片的一输入输出(input/output，I/O)端用于接收一工作电压。第一工作状态为工作电压具有一第一电压值或是晶片具有一第一温度。建构第一函数包含以下流程：自多个振荡器电路系统收集多个振荡信号；自多个振荡器电路系统收集多个振荡信号；将多个第一权重值作为第一函数的系数分别分配给多个振荡信号的周期以建构第一函数，并以第一电压值或第一温度作为第一函数的一输入，且以第一效能值或第一效能值的近似值作为第一函数的一输出，以决定多个第一权重值。

在上述效能计算方法的某些实施例中，第二工作状态为工作电压具有一第二电压值或是晶片具有一第二温度。建构第二函数包含以下流程：自多个振荡器电路系统收集多个振荡信号；量测晶片的第二效能值；将多个第二权重值作为第二函数的系数分别分配给多个振荡信号的周期以建构第二函数，并以第二电压值或第二温度作为第二函数的一输入，且以第二效能值或第二效能值的近似值作为第二函数的一输出，以决定多个第二权重值。

在上述效能计算方法的某些实施例中，依据第一函数的图形与第二函数的图形的走势，调整第一函数的系数或第二函数的系数包含以下流程：若以第二电压值作为第一函数的一输入所得到的第一函数的一输出大于或等于第二效能值，则调整第一函数的系数；若以第一电压值作为第二函数的一输入所得到的第二函数的一输出大于或等于第一效能值，则调整第二函数的系数。

在上述效能计算方法的某些实施例中，第一函数的图形包含分别位于座标点左侧与右侧的一第一线段与一第二线段，第二函数的图形包含分别位于座标点左侧与右侧的一第三线段与一第四线段。建构晶片的效能函数包含以下流程：选择第一线段与第三线段中用于将一对应电压值映射至一较高效能值者作为效能函数的图形的一第一部分；选择第二线段与第四线段用于将另一对应电压值映射至另一较高效能值者作为效能函数的图形的一第二部分；依据第一部分、第二部分与座标点建构效能函数。