[发明专利]电子产品寿命评估和测试方法、设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种电子产品寿命评估和测试方法，其特征在于，包括：

当电子产品中的电解电容上电工作超过第一预设时间后，获取所述电解电容的状态测量值，所述状态测量值包括外壳温度测量值或交流纹波电流测量值；

当所述电解电容的总工作时间处于预设时段内，且上电工作超过第二预设时间后，定时更新所述电解电容的状态标准值，所述状态标准值包括外壳温度标准值或交流纹波电流标准值；所述定时更新电解电容的状态标准值的步骤包括：提取存储于存储器内的状态标准值；定时获取所述电解电容的实时状态测量值；定时计算所述状态标准值及实时状态测量值的平均值，并将所述平均值作为最新的状态标准值；根据所述最新的状态标准值更新所述存储器内的状态标准值；

当所述电解电容的总工作时间超过所述预设时段后，定时将所述电解电容的状态测量值与状态标准值进行比较，生成状态百分比值，并通过LED指示灯对外发送所述状态百分比值；

根据所述状态百分比值评估电子产品寿命。

2.如权利要求1所述的电子产品寿命评估和测试方法，其特征在于，还包括：更新所述存储器内的状态最大值。

3.如权利要求1所述的电子产品寿命评估和测试方法，其特征在于，还包括：

定时获取所述电解电容的实时外壳温度值；

当所述实时外壳温度值大于最大设定温度时，生成报警信息。

4.如权利要求1所述的电子产品寿命评估和测试方法，其特征在于，采用数字滤波法获取所述电解电容的状态测量值。

5.如权利要求1所述的电子产品寿命评估和测试方法，其特征在于，采用摩尔斯电码的方式，通过LED指示灯对外发送状态百分比值。

6.如权利要求1所述的电子产品寿命评估和测试方法，其特征在于，还包括：定时将最新的状态百分比值存储至存储器中。

7.如权利要求1所述的电子产品寿命评估和测试方法，其特征在于，还包括：根据预设规则，将实时监测数据存储至存储器中，所述实时监测数据包括状态百分比值、状态标准值及总工作时间。

8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。