[发明专利]一种超声测距装置的校正方法在审

专利信息
申请号: 202011117016.2 申请日: 2020-10-19
公开(公告)号: CN112444800A 公开(公告)日: 2021-03-05
发明(设计)人: 陈志勇;陈智;于东亮 申请(专利权)人: 中科传启(苏州)科技有限公司
主分类号: G01S7/52 分类号: G01S7/52;G01S15/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 超声 测距 装置 校正 方法
【权利要求书】:

1.一种超声测距装置的校正方法,其特征在于,其包括以下步骤:

将超声测距装置正对平整光滑的目标物体放置;

超声测距装置对目标物体发射超声信号并接收反射回波信号;

对回波信号进行处理并获取一次反射回波到达时间t1和二次回波到达时间t2;

根据一次反射回波到达时间t1、二次反射回波到达时间t2以及超声信号实际飞行时间计算系统时延dt;

更新超声测距装置内的系统时延dt,完成校正。

2.根据权利要求1所述的超声测距装置的校正方法,其特征在于,所述超声信号从超声测距装置到目标物体实际飞行时间为tof,所述一次反射回波到达时间t1与超声信号实际飞行时间之间的关系为t1+dt=2tof。

3.根据权利要求2所述的超声测距装置的校正方法,其特征在于,所述二次反射回波到达时间t2与超声信号实际飞行时间之间的关系为t2+dt=4tof。

4.根据权利要求3所述的超声测距装置的校正方法,其特征在于,所述系统时延dt=t2-2t1。

5.根据权利要求1所述的超声测距装置的校正方法,其特征在于,所述回波信号通过阈值检测法或相关检测法或峰值检测法或正交解调法处理得到所述一次反射回波到达时间t1和二次回波到达时间t2。

6.根据权利要求1所述的超声测距装置的校正方法,其特征在于,所述超声测距装置放置于平整的地面或桌面上。

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