[发明专利]一种APM探针采样率确定方法、计算机设备及存储介质

说明书

本申请涉及一种APM探针采样率确定方法、计算机设备及存储介质，其中，该方法包括：根据被监控应用当前的资源情况确定当前的资源状态；按照预设状态机，根据当前的资源状态、上一资源状态和当前的采样状态确定新的采样状态，其中，该预设状态机的采样状态包括：全量采样状态、禁用采样状态，以及多个中间采样状态；在新的采样状态为多个中间采样状态之一时，根据新的采样状态对应的采样率调整策略确定新的采样率，其中，每个中间采样状态具有对应的采样率调整策略，采样率调整策略被设置为调整当前的采样率得到新的采样率。通过本申请，实现了调整APM探针采样率，降低了APM探针采样对应用性能的影响，并在多种资源情况下采样。

技术领域

本申请涉及应用性能管理(Application Performance Management，简称为APM)技术领域，尤其涉及一种APM探针采样率确定方法、计算机设备及存储介质。

背景技术

应用性能是反映应用面向用户提供服务质量的关键指标，应用性能的风险可能直接导致用户体验下降，甚至服务中断。应用性能管理(APM)作为一个比较新的网络管理方向，主要指对企业的关键业务应用进行监测、优化，提高企业应用的可靠性和质量，保证用户得到良好的服务，降低IT总拥有成本(Total cost of ownership，简称为TCO)。

近年来，新技术、新需求的涌现促使企业拥有的应用数量和应用复杂度快速膨胀，使得企业应用运维不堪重负。由于应用性能问题导致企业客户流失和经济损失的案例也逐渐增加，传统的应用性能管理的单应用节点监控、分析机制已难以应对。现有应用性能管理中的应用性能监控系统主要包括单应用节点监控与分布式应用监控。

APM探针采用非侵入式的方式监控应用性能数据和业务数据,但是同样也会带来一定的性能消耗,并由此导致应用性能受损，降低应用的使用体验。

发明内容

为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本申请提供了一种APM探针采样率确定方法、计算机设备及存储介质。

第一方面，本申请提供了一种APM探针采样率确定方法，包括：根据被监控应用当前的资源情况确定当前的资源状态，其中，资源状态与资源充足程度相关；按照预设状态机，根据当前的资源状态、上一资源状态和当前的采样状态确定新的采样状态，其中，预设状态机的采样状态包括：全量采样状态、禁用采样状态，以及介于全量采样状态与禁用采样状态之间的多个中间采样状态；在新的采样状态为多个中间采样状态之一时，根据新的采样状态对应的采样率调整策略确定新的采样率，其中，每个中间采样状态具有对应的采样率调整策略，采样率调整策略被设置为调整当前的采样率得到新的采样率。

在某些实施例中，上述多个采样调整策略被设置为按照多种程度调整当前的采样率得到新的采样率，该调整为提高或降低采样率。

在某些实施例中，上述预设状态机被配置为，使得当前的资源状态相对于上一资源状态变化程度越高，进入的新的采样率状态对应的采样率的调整程度越高。

在某些实施例中，上述多个中间采样状态包括：快速降低状态、快速增长状态、慢速增长状态和慢速降低状态；其中，快速降低状态和慢速降低状态对应的采样率调整策略，被配置为降低当前的采样率得到新的采样率，且快速降低状态对应的降低程度大于慢速降低状态对应的降低程度；快速增长状态和慢速增长状态对应的采样率调整策略，被配置为提高当前的采样率得到新的采样率，且快速增长状态对应的提高程度大于慢速增长状态对应的提高程度。

在某些实施例中，上述资源状态包括：资源充足、资源匮乏，以及介于资源充足与资源匮乏之间的一个或多个中间资源状态，其中，上述预设状态机被配置为，在资源匮乏时进入禁用采样状态。