[发明专利]连接状态检测电路、方法及显示面板

权利要求书

1.一种连接状态检测电路，其特征在于，应用于显示面板的发光电路的检测，所述发光电路包括第一节点和第二节点，所述第一节点和所述第二节点用于与发光单元连接，所述第二节点接入第一供电信号；所述检测电路包括：

检测电源，与所述第一节点连接；

测量单元，与所述第一节点连接，用于在所述检测电源向所述第一节点输入检测电压信号的情况下，获取所述第一节点的测量电压值，判断所述测量电压值是否等于所述检测电压值，所述检测电压值为所述检测电压信号的电压值；如果所述测量电压值等于所述检测电压值，确定所述发光单元连接状态为未连接状态，所述未连接状态用于表征所述第一节点和所述第二节点之间未连接发光单元；如果所述测量电压值不等于所述检测电压值，判断所述测量电压值是否大于指定电压值且小于所述检测电压值；如果大于所述指定电压值且小于所述检测电压值，确定所述发光单元连接状态为不稳定连接，所述不稳定连接用于表征所述第一节点和所述第二节点连接的发光单元接触不良；如果所述测量电压值小于所述指定电压值，确定所述发光单元连接状态为稳定连接，所述稳定连接用于表征第一节点和第二节点之间连接的发光单元的接触良好。

2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述检测电路还包括：

检测开关，所述检测电源通过所述检测开关与所述第一节点连接，所述检测开关用于在接收到指定电平信号时将所述检测电源与所述第一节点导通；

所述检测电源用于在所述检测电源与所述第一节点导通时，向所述第一节点输入检测电压信号。

3.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述发光单元为发光二极管，所述检测开关为第一晶体管器件，所述第一晶体管器件的源极与检测电源连接，所述第一晶体管器件的漏极与所述第一节点连接，所述第一晶体管器件的栅极用于接收指定电平信号，所述第一晶体管器件用于在所述第一晶体管器件的栅极接收到所述指定电平信号时将所述第一晶体管器件的源极与漏极导通。

4.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述检测电路还包括：

测量开关，所述第一节点通过所述测量开关与所述测量单元连接，所述测量开关用于在接收到所述指定电平信号时将所述测量单元与所述第一节点导通。

5.根据权利要求4所述的电路，其特征在于，所述发光单元为发光二极管，所述测量开关为第二晶体管器件，所述第二晶体管器件的源极与所述第一节点连接，所述第二晶体管器件的漏极与所述测量单元连接，所述第二晶体管器件的栅极用于接收所述指定电平信号，所述第二晶体管器件用于在所述第二晶体管器件的栅极接收到所述指定电平信号时将所述第二晶体管器件的源极与漏极导通。

6.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述发光电路为多个，多个所述发光电路构成发光阵列，所述检测电路还包括控制单元，所述检测开关为多个，每个所述发光电路的第一节点通过一个所述检测开关与所述检测电源连接；

所述控制单元用于依次控制每个所述检测开关导通，以使所述测量单元依次确定每个所述发光电路的发光单元连接状态。

7.根据权利要求6所述的电路，其特征在于，所述发光阵列为通过转移操作在第二基板上形成的阵列，所述转移操作为将第一基板上的多个发光单元向所述第二基板上转移。

8.根据权利要求6所述的电路，其特征在于，所述检测电路还包括：多个检测信号线和多个测量信号线；

每个所述检测信号线均与所述控制单元连接，每个所述测量信号线均与所述测量单元连接，同一行的所述检测开关与同一个所述检测信号线连接，同一列的所述发光电路的第一节点与同一个所述测量信号线连接；所述控制单元用于依次向不同的检测信号线输入所述指定电平信号。