[发明专利]基于光子计数能谱CT的含能材料等效原子序数测量方法

权利要求书

1.一种基于光子计数能谱CT的含能材料等效原子序数测量方法，其特征在于包括下述步骤：

步骤1：获取3个材质组成已知的标定物的等效原子序数Z_k,eff，k为标定物序号；

步骤2：利用光子计数能谱CT，将待测样品和3个标定物同时进行CT扫描，并重建低能区CT图像S_L(x,y)和高能区CT图像S_H(x,y)；

步骤3：将S_L(x,y)除以S_H(x,y)，得到待测样品和标定物的相对比值图像S_R(x,y)；

步骤4：利用标定物的等效原子序数及其相对比值，拟合等效原子序数与相对比值的关系曲线；

步骤5：利用S_R(x,y)和步骤4的关系曲线，计算得到待测样品和标定物的等效原子序数图像Z_eff(x,y)。

2.根据权利要求1所述的一种基于光子计数能谱CT的含能材料等效原子序数测量方法，其特征在于：在所述步骤4中，利用标定物的等效原子序数及其相对比值，拟合等效原子序数与相对比值的关系曲线为R为相应标定物在S_R(x,y)中的相对比值，a、b、c为关系曲线参数。

3.根据权利要求1所述的一种基于光子计数能谱CT的含能材料等效原子序数测量方法，其特征在于：在所述步骤5中，根据步骤4的关系曲线R，可以得到等效原子序数图像计算公式再根据S_R(x,y)即可计算得到待测样品和标定物的等效原子序数图像Z_eff(x,y)，其中a、b、c的取值与步骤4中相同。

4.根据权利要求1所述的一种基于光子计数能谱CT的含能材料等效原子序数测量方法，其特征在于：该方法所得到的等效原子序数图像计算公式，在同一光子计数能谱CT和相同扫描参数的情况下可以重复利用，即此时只需对待测样品(无标定物)执行步骤2、步骤3和步骤5，即可得到待测样品的等效原子序数图像。