[发明专利]一种超薄晶圆电镀、化镀整合工艺在审
申请号: | 202011120973.0 | 申请日: | 2020-10-19 |
公开(公告)号: | CN112259493A | 公开(公告)日: | 2021-01-22 |
发明(设计)人: | 严立巍;文锺;符德荣 | 申请(专利权)人: | 绍兴同芯成集成电路有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/02;C23C28/00 |
代理公司: | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人: | 王依 |
地址: | 312000 浙江省绍兴市越城区*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 超薄 电镀 整合 工艺 | ||
本发明公开一种超薄晶圆电镀、化镀整合工艺,包括以下步骤:键合玻璃载板的超薄晶圆或是缓坡状边缘的超薄晶圆,超薄晶圆与电镀槽的电源接触点接合,开始进行电镀制程,完成电镀后,环状夹具固定住超薄晶圆进入旋转喷淋腔体,完成光阻去除步骤,进行种子层刻蚀及化镀的前处理制程,环状夹具继续固定住超薄晶圆进入化镀槽,分别完成各种金属化镀制程,环状连同超薄晶圆最后完成清洗及干燥步骤,将环状夹具与超薄晶圆分离。本发明超薄晶圆电镀、化镀整合工艺设备整合工艺可以水平/垂直式配搭,旋转及浸泡式配搭以完成最佳的制程效率,超薄晶圆无间断的在不同类型的反应槽中传送、定位完成每一制程,避免中间间隔产生的自然氧化或污染。
技术领域
本发明涉及一种半导体工艺领域,具体是一种超薄晶圆电镀、化镀整合工艺。
背景技术
半导体3D元件或MEMS(微机电系统)或高阶高功率器件,结合超薄晶圆及玻璃载板,运用TSV及TGV连结上下元件形成快速、低损耗、散热性佳的2.5D,3D元件,需要结合化镀及电镀的优点及特性达成完美的金属连通及键接。
化镀亦称为无电极电镀,特点是利用基板表面的金属与电解液之间的电位差,自然自发性产生电化学反应,不须外加电极及电流,优点是可达成选择性成长,只会在有金属的部分产生反应,只有绝缘体的部分完全不会反应,因此不须黄光图案即可形成电镀区域图案分布,但由于膜厚达到一定程度后,离子交换的速度会减慢,不利于厚层电镀膜的制作,另外,化镀对金属表面的特性要求非常高,有任何自然氧化层及有机物或其他的污染,皆会严重影响后续化镀的效果,针对这种情况,结合有电极电镀及无电极化镀的特性,整合制程及设备达成最效率及良率的晶圆及玻璃载板整合制程,现提出一种超薄晶圆电镀、化镀整合工艺。
发明内容
本发明的目的在于提供一种超薄晶圆电镀、化镀整合工艺,设备整合工艺可以水平/垂直式配搭,旋转及浸泡式配搭以完成最佳的制程效率,超薄晶圆可以无间断的在不同类型的反应槽中传送、定位完成每一制程,即可避免中间间隔产生的自然氧化或污染,亦可降低不同设备转换过程中超薄晶圆可能产生破片的危险,由于没有快速旋转的机械动作,大幅度降低了超薄晶圆破片的风险,
本发明的目的可以通过以下技术方案实现:
一种超薄晶圆电镀、化镀整合工艺,包括以下步骤:
S1:键合玻璃载板的超薄晶圆或是缓坡状边缘的超薄晶圆,晶圆水平传送至环状夹具结合区,以环状的夹具固定住;
S2:利用环状夹具固定住超薄晶圆,超薄晶圆与电镀槽的电源接触点接合,开始进行电镀制程;
S3:完成电镀后,环状夹具固定住超薄晶圆进入旋转喷淋腔体,完成光阻去除步骤;
S4:进行种子层刻蚀及化镀的前处理制程,包括表面刻蚀、清洗及表面金属催化层生成、化学处理、有机溶剂、酸、碱,清洗工序,使用垂直喷淋装置;
S5:环状夹具继续固定住超薄晶圆进入化镀槽,分别完成各种金属化镀制程;
S6:环状连同超薄晶圆最后完成清洗及干燥步骤;
S7:在设备的输出端,将环状夹具与超薄晶圆分离,环状夹具回收而超薄晶圆回到晶圆盒中。
进一步地,所述步骤S1中,采用半圆式夹并结合将超薄晶圆厚的边缘,夹具设计有与外部电源的连通点,电流透过环状夹具均匀的分布到晶圆表面。
进一步地,所述步骤S5中,金属化镀包括Au pd Ni。
本发明的有益效果:
1、本发明超薄晶圆电镀、化镀整合工艺设备整合工艺可以水平/垂直式配搭,旋转及浸泡式配搭以完成最佳的制程效率;
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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