[发明专利]一种大浅孔的检测方法及装置在审

专利信息
申请号: 202011121500.2 申请日: 2020-10-20
公开(公告)号: CN112129202A 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 曾春华;石年平;彭杰;李廷飞 申请(专利权)人: 贵州群建精密机械有限公司
主分类号: G01B5/12 分类号: G01B5/12;G01B5/20;G01B5/00
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所 52100 代理人: 刘楠
地址: 563003 贵州省遵义*** 国省代码: 贵州;52
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摘要:
搜索关键词: 一种 大浅孔 检测 方法 装置
【说明书】:

发明公开了一种大浅孔的检测方法及装置,本发明通过连接杆延长了百分表的检测范围,实现了对大浅孔的检测;所用检测装置包括连接杆(1);连接杆一端为光杆段(2),连接杆另一端为螺纹段(3);光杆段经连接杆锁紧螺钉(4)与固定测头安装座(5)固定连接;螺纹段与百分表安装座(6)螺纹连接;固定测头安装座底部安装有固定测头(7);百分表安装座上安装有百分表(8)。本发明结构简单、操作方便、通用性强、测量精度高,能够准确检测普通量具无法检测的大浅孔的尺寸。由于本发明可减少零件周转的工作量,所以在对大批量零件进行检测时其优点尤为显著。

技术领域

本发明涉及一种大浅孔的检测方法及装置,属于大型机械零件检测技术领域。

背景技术

内孔是机械零件常见的结构特征,其中大浅孔因其直径较大、深度较浅,导致常规检具无法对其进行检测,所以大浅孔的检测一直是工业生产中的一个难点。

现有技术在对内孔检测时,常采用塞规、内径百分表、内径千分尺、检测仪等量具进行检测。对于大浅孔零件而言(孔径大于或等于300毫米、孔的深度小于或等于10毫米的一般称为大浅孔),尺寸较大、深度较浅,若仍采用现有技术进行检测,由于大浅孔尺寸大,对应塞规的制造、检测及使用难度大;由于内孔较浅现有的内径百分表、内径千分尺通常因干涉而无法使用;现有检测仪器通常是安装在专用工作台上,因而很难在机床上进行检测,无法在加工现场进行实时检测,一旦加工超差后造成无法弥补的损失。如果将零件从机床上拆下进行检测,由于零配件较大、较重拆下检测的工作量很大。另外拆下检测也很难保证加工精度。因此现有技术仍存在不足,有待进一步改进。

发明内容

本发明的目的在于,提供一种大浅孔的检测方法及装置,以能够方便、快捷的检测出大浅孔精确数据,从而解决现有技术存在的不足。

为实现上述目的,本发明采用如下技术方案:

本发明的一种大浅孔的检测方法为,该方法对于孔径大于或等于300毫米、孔的深度小于或等于10毫米的大浅孔,按以下步骤检测其尺寸和椭圆度:

步骤1、根据大浅孔深度选取固定测头;并将固定测头的螺杆旋入固定测头安装座底部的螺孔内;

步骤2、将百分表安装座安装在连接杆的螺纹段;并通过一对百分表安装座锁紧螺母将百分表安装座锁紧在连接杆上,防止百分表安装座沿连接杆轴向移动;

步骤3、将固定测头安装座套在连接杆的光杆段;然后将固定测头安装座和百分表安装座同时放在校准平台上校平,确保固定测头安装座和百分表安装座底面位于同一平面;

步骤4、根据被检零件上大浅孔直径尺寸,沿连接杆轴线平移固定测头安装座,调整固定测头球面最左点与百分表探头之间的距离至合适位置,并通过连接杆锁紧螺钉将固定测头安装座锁定在连接杆上;

步骤5、将百分表通过百分表锁紧螺钉安装在百分表安装座上,使百分表探头与检测基准适量接触,并将百分表指针调至零位;

步骤6、根据大浅孔尺寸,沿连接杆轴线平移固定测头安装座,调整固定测头球面最高点与百分表探头之间的距离至合适位置,使用对应量程及精度的外径千分尺进行校调,将固定测头球面最左点与百分表探头球面最右点之间的距离调整至大浅孔尺寸的合格范围内,并记录此数据d ,并将百分表调至0位,并通过连接杆锁紧螺钉锁定固定测头安装座在连接杆上的位置;

步骤7、将固定测头球面与大浅孔内壁接触并记录固定测头球面与对应180°位置处百分表探头球面与大浅孔内壁接触时的百分表数据距离δ;

步骤8、以大浅孔轴线为轴心缓慢旋转连接杆,这样即可测量得到大浅孔不同方向的数据距离δ,选取最大值δmax和最小值δmin,即可计算出大浅孔最小直径尺寸d1为:d1=d +δmin,大浅孔最大直径尺寸d2为: d2=d +δmax,大浅孔椭圆度=δmax-δmin。

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